Verfahren und Vorrichtung zum Testen von Speichereinheiten in einer digitalen Schaltung

Verfahren zum Testen mindestens einer Speichereinheit einer digitalen Speicherschaltung, wobei das Verfahren zumindest die folgenden Schritte umfasst: a) Speichern von mehreren Testmustern in Registern einer Anzahl von mehreren Registern (102a, 102b, 102c, 102d) in einer digitalen Speicherschaltung;...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	THALMANN, ERWIN
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	INFORMATION STORAGE PHYSICS STATIC STORES
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