WEGMESSUNG MIT MILLIMETERWELLEN-METAMATERIALZIELEN

Ein Sensorsystem umfasst wenigstens einen Sender, eine Empfängerschaltung und eine Metamaterialschicht mit einer relativen Position, die so ausgebildet ist, dass sie relativ zum Sender variiert. Die Metamaterialschicht umfasst eine Gruppe von Grundstrukturen, die innerhalb eines Koordinatensystems d...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Michenthaler, Christof, Hammerschmidt, Dirk
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS DETECTING MASSES OR OBJECTS GEOPHYSICS GRAVITATIONAL MEASUREMENTS MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICALDEVICES MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY PERFORMING OPERATIONS PHYSICS TARIFF METERING APPARATUS TESTING TRANSPORTING
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