Detektionsaufbau

Beschrieben wird ein Verfahren und eine Verwendung einer Mehrzahl von Markierungen, die auf einem Werkstück in einer vorbestimmten Anordnung angeordnet sind, um eine Position von mindestens zwei Merkmalen des Werkstücks relativ zueinander zu bestimmen. Ferner wird ein Detektionsaufbau beschrieben, a...

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Hauptverfasser: Moalem, Anas, Hüske, Marc
Format: Patent
Sprache:ger
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creator Moalem, Anas
Hüske, Marc
description Beschrieben wird ein Verfahren und eine Verwendung einer Mehrzahl von Markierungen, die auf einem Werkstück in einer vorbestimmten Anordnung angeordnet sind, um eine Position von mindestens zwei Merkmalen des Werkstücks relativ zueinander zu bestimmen. Ferner wird ein Detektionsaufbau beschrieben, aufweisend: ein Werkstück; wobei das Werkstück eine Mehrzahl von Markierungen aufweist, die in einer vorbestimmten Anordnung angeordnet sind; wobei das Werkstück ferner mindestens zwei Merkmale aufweist; eine Strahlungsquelle zum Beleuchten des Werkstücks mit einer Strahlung; eine Transportvorrichtung zum Bewegen des Werkstücks und der Strahlung relativ zueinander; eine Sensorvorrichtung, die konfiguriert ist, um die Mehrzahl von Markierungen zu detektieren und in Reaktion hierauf ein Ausgangssignal zu liefern; und eine Verarbeitungsvorrichtung, die konfiguriert ist, um unter Verwendung des Ausgangssignals eine Position der mindestens zwei Merkmale relativ zueinander zu ermitteln. The invention describes a method and a use of a plurality of markings, which are arranged on a workpiece in a predefined arrangement in order to determine a position of at least two features of the workpiece relative to one another. The invention also describes a detection structure, having: a workpiece; wherein the workpiece has a plurality of markings which are arranged in a predefined arrangement; wherein the workpiece further has at least two features; a radiation source for illuminating the workpiece with a radiation; a transport device for moving the workpiece and the radiation relative to one another; a sensor device which is configured to detect the plurality of markings and in reaction hereto to provide an output signal; and a processing device which is configured to determine, using the output signal, a position of the at least two features relative to one another.
format Patent
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Ferner wird ein Detektionsaufbau beschrieben, aufweisend: ein Werkstück; wobei das Werkstück eine Mehrzahl von Markierungen aufweist, die in einer vorbestimmten Anordnung angeordnet sind; wobei das Werkstück ferner mindestens zwei Merkmale aufweist; eine Strahlungsquelle zum Beleuchten des Werkstücks mit einer Strahlung; eine Transportvorrichtung zum Bewegen des Werkstücks und der Strahlung relativ zueinander; eine Sensorvorrichtung, die konfiguriert ist, um die Mehrzahl von Markierungen zu detektieren und in Reaktion hierauf ein Ausgangssignal zu liefern; und eine Verarbeitungsvorrichtung, die konfiguriert ist, um unter Verwendung des Ausgangssignals eine Position der mindestens zwei Merkmale relativ zueinander zu ermitteln. The invention describes a method and a use of a plurality of markings, which are arranged on a workpiece in a predefined arrangement in order to determine a position of at least two features of the workpiece relative to one another. The invention also describes a detection structure, having: a workpiece; wherein the workpiece has a plurality of markings which are arranged in a predefined arrangement; wherein the workpiece further has at least two features; a radiation source for illuminating the workpiece with a radiation; a transport device for moving the workpiece and the radiation relative to one another; a sensor device which is configured to detect the plurality of markings and in reaction hereto to provide an output signal; and a processing device which is configured to determine, using the output signal, a position of the at least two features relative to one another.</description><language>ger</language><subject>MEASURING ; MEASURING ANGLES ; MEASURING AREAS ; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS ; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2024</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20240208&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=102022119035A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25562,76317</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20240208&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=102022119035A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>Moalem, Anas</creatorcontrib><creatorcontrib>Hüske, Marc</creatorcontrib><title>Detektionsaufbau</title><description>Beschrieben wird ein Verfahren und eine Verwendung einer Mehrzahl von Markierungen, die auf einem Werkstück in einer vorbestimmten Anordnung angeordnet sind, um eine Position von mindestens zwei Merkmalen des Werkstücks relativ zueinander zu bestimmen. Ferner wird ein Detektionsaufbau beschrieben, aufweisend: ein Werkstück; wobei das Werkstück eine Mehrzahl von Markierungen aufweist, die in einer vorbestimmten Anordnung angeordnet sind; wobei das Werkstück ferner mindestens zwei Merkmale aufweist; eine Strahlungsquelle zum Beleuchten des Werkstücks mit einer Strahlung; eine Transportvorrichtung zum Bewegen des Werkstücks und der Strahlung relativ zueinander; eine Sensorvorrichtung, die konfiguriert ist, um die Mehrzahl von Markierungen zu detektieren und in Reaktion hierauf ein Ausgangssignal zu liefern; und eine Verarbeitungsvorrichtung, die konfiguriert ist, um unter Verwendung des Ausgangssignals eine Position der mindestens zwei Merkmale relativ zueinander zu ermitteln. The invention describes a method and a use of a plurality of markings, which are arranged on a workpiece in a predefined arrangement in order to determine a position of at least two features of the workpiece relative to one another. The invention also describes a detection structure, having: a workpiece; wherein the workpiece has a plurality of markings which are arranged in a predefined arrangement; wherein the workpiece further has at least two features; a radiation source for illuminating the workpiece with a radiation; a transport device for moving the workpiece and the radiation relative to one another; a sensor device which is configured to detect the plurality of markings and in reaction hereto to provide an output signal; and a processing device which is configured to determine, using the output signal, a position of the at least two features relative to one another.</description><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ANGLES</subject><subject>MEASURING AREAS</subject><subject>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</subject><subject>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2024</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZBBwSS1JzS7JzM8rTixNS0os5WFgTUvMKU7lhdLcDKpuriHOHrqpBfnxqcUFicmpeakl8S6uhgZGBkZGhoaWBsamjobGxKoDALdnIPM</recordid><startdate>20240208</startdate><enddate>20240208</enddate><creator>Moalem, Anas</creator><creator>Hüske, Marc</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20240208</creationdate><title>Detektionsaufbau</title><author>Moalem, Anas ; Hüske, Marc</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_DE102022119035A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>ger</language><creationdate>2024</creationdate><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ANGLES</topic><topic>MEASURING AREAS</topic><topic>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</topic><topic>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>Moalem, Anas</creatorcontrib><creatorcontrib>Hüske, Marc</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>Moalem, Anas</au><au>Hüske, Marc</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Detektionsaufbau</title><date>2024-02-08</date><risdate>2024</risdate><abstract>Beschrieben wird ein Verfahren und eine Verwendung einer Mehrzahl von Markierungen, die auf einem Werkstück in einer vorbestimmten Anordnung angeordnet sind, um eine Position von mindestens zwei Merkmalen des Werkstücks relativ zueinander zu bestimmen. Ferner wird ein Detektionsaufbau beschrieben, aufweisend: ein Werkstück; wobei das Werkstück eine Mehrzahl von Markierungen aufweist, die in einer vorbestimmten Anordnung angeordnet sind; wobei das Werkstück ferner mindestens zwei Merkmale aufweist; eine Strahlungsquelle zum Beleuchten des Werkstücks mit einer Strahlung; eine Transportvorrichtung zum Bewegen des Werkstücks und der Strahlung relativ zueinander; eine Sensorvorrichtung, die konfiguriert ist, um die Mehrzahl von Markierungen zu detektieren und in Reaktion hierauf ein Ausgangssignal zu liefern; und eine Verarbeitungsvorrichtung, die konfiguriert ist, um unter Verwendung des Ausgangssignals eine Position der mindestens zwei Merkmale relativ zueinander zu ermitteln. The invention describes a method and a use of a plurality of markings, which are arranged on a workpiece in a predefined arrangement in order to determine a position of at least two features of the workpiece relative to one another. The invention also describes a detection structure, having: a workpiece; wherein the workpiece has a plurality of markings which are arranged in a predefined arrangement; wherein the workpiece further has at least two features; a radiation source for illuminating the workpiece with a radiation; a transport device for moving the workpiece and the radiation relative to one another; a sensor device which is configured to detect the plurality of markings and in reaction hereto to provide an output signal; and a processing device which is configured to determine, using the output signal, a position of the at least two features relative to one another.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
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