ABTASTEINHEIT UND DAMIT AUSGESTATTETER DREHGEBER

Die Erfindung betrifft eine Abtasteinheit (1) zur Abtastung eines relativ zur Abtasteinheit (1) um eine Achse (A) drehbaren Skalenelements (2). Die Abtasteinheit (1) umfasst eine Leiterplatte (1.2), die ein Substrat (1.21) aufweist, welches eine erste Fläche (1.211), eine der ersten Fläche (1.211) g...

Ausführliche Beschreibung

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Hauptverfasser: Jäger, Thomas, Eder, Peter, Brandl, Alois, Ahrendt, Dirk, Thaler, Josef
Format: Patent
Sprache:ger
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creator Jäger, Thomas
Eder, Peter
Brandl, Alois
Ahrendt, Dirk
Thaler, Josef
description Die Erfindung betrifft eine Abtasteinheit (1) zur Abtastung eines relativ zur Abtasteinheit (1) um eine Achse (A) drehbaren Skalenelements (2). Die Abtasteinheit (1) umfasst eine Leiterplatte (1.2), die ein Substrat (1.21) aufweist, welches eine erste Fläche (1.211), eine der ersten Fläche (1.211) gegenüberliegende zweite Fläche (1.212) sowie eine umlaufende dritte Fläche (1.213) aufweist. An der ersten Fläche (1.211) ist eine Aufnehmeranordnung (1.23) angeordnet und an der zweiten Fläche (1.212) sind elektronische Bauteile (1.22) montiert. Die dritte Fläche (1.213) weist mehrere konkave Einbuchtungen (1.214) auf. Die Abtasteinheit (1) umfasst zudem einen Metallrahmen (1.1), der eine durchgängige erste Ausnehmung (1.11) aufweist, die von einer Innenseite (I) des Metallrahmens (1.1) radial begrenzt ist, wobei die Innenseite (I) mehrere nach innen ragende Elemente (1.12) aufweist. Die nach innen ragenden Elemente (1.12) greifen derart in die konkaven Einbuchtungen (1.214) ein, dass das Substrat (1.21) unter mechanischer Spannung im Metallrahmen (1.1) fixiert ist. A scanning unit is arranged to scan a scale element that is rotatable about an axis relative to the scanning unit. The scanning unit includes a circuit board, which includes a substrate having a first surface, a second surface arranged opposite the first surface, and a circumferential third surface. A transducer system is arranged on the first surface, and electronic components are mounted on the second surface. The third surface includes a plurality of concave indentations. The scanning unit furthermore includes a metal frame having an uninterrupted first recess, which is radially restricted by an inner side of the metal frame, the inner side having a plurality of inwardly projecting elements. The inwardly projecting elements engage with the concave indentations such that the substrate is fixed in place in the metal frame under mechanical tension.
format Patent
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Die Abtasteinheit (1) umfasst eine Leiterplatte (1.2), die ein Substrat (1.21) aufweist, welches eine erste Fläche (1.211), eine der ersten Fläche (1.211) gegenüberliegende zweite Fläche (1.212) sowie eine umlaufende dritte Fläche (1.213) aufweist. An der ersten Fläche (1.211) ist eine Aufnehmeranordnung (1.23) angeordnet und an der zweiten Fläche (1.212) sind elektronische Bauteile (1.22) montiert. Die dritte Fläche (1.213) weist mehrere konkave Einbuchtungen (1.214) auf. Die Abtasteinheit (1) umfasst zudem einen Metallrahmen (1.1), der eine durchgängige erste Ausnehmung (1.11) aufweist, die von einer Innenseite (I) des Metallrahmens (1.1) radial begrenzt ist, wobei die Innenseite (I) mehrere nach innen ragende Elemente (1.12) aufweist. Die nach innen ragenden Elemente (1.12) greifen derart in die konkaven Einbuchtungen (1.214) ein, dass das Substrat (1.21) unter mechanischer Spannung im Metallrahmen (1.1) fixiert ist. A scanning unit is arranged to scan a scale element that is rotatable about an axis relative to the scanning unit. The scanning unit includes a circuit board, which includes a substrate having a first surface, a second surface arranged opposite the first surface, and a circumferential third surface. A transducer system is arranged on the first surface, and electronic components are mounted on the second surface. The third surface includes a plurality of concave indentations. The scanning unit furthermore includes a metal frame having an uninterrupted first recess, which is radially restricted by an inner side of the metal frame, the inner side having a plurality of inwardly projecting elements. The inwardly projecting elements engage with the concave indentations such that the substrate is fixed in place in the metal frame under mechanical tension.</description><language>ger</language><subject>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS ; MEASURING ; MEASURING ANGLES ; MEASURING AREAS ; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS ; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS ; MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE ; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; PHYSICS ; TARIFF METERING APPARATUS ; TESTING</subject><creationdate>2021</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20211223&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=102021200441A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76290</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20211223&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=102021200441A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>Jäger, Thomas</creatorcontrib><creatorcontrib>Eder, Peter</creatorcontrib><creatorcontrib>Brandl, Alois</creatorcontrib><creatorcontrib>Ahrendt, Dirk</creatorcontrib><creatorcontrib>Thaler, Josef</creatorcontrib><title>ABTASTEINHEIT UND DAMIT AUSGESTATTETER DREHGEBER</title><description>Die Erfindung betrifft eine Abtasteinheit (1) zur Abtastung eines relativ zur Abtasteinheit (1) um eine Achse (A) drehbaren Skalenelements (2). 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A scanning unit is arranged to scan a scale element that is rotatable about an axis relative to the scanning unit. The scanning unit includes a circuit board, which includes a substrate having a first surface, a second surface arranged opposite the first surface, and a circumferential third surface. A transducer system is arranged on the first surface, and electronic components are mounted on the second surface. The third surface includes a plurality of concave indentations. The scanning unit furthermore includes a metal frame having an uninterrupted first recess, which is radially restricted by an inner side of the metal frame, the inner side having a plurality of inwardly projecting elements. The inwardly projecting elements engage with the concave indentations such that the substrate is fixed in place in the metal frame under mechanical tension.</description><subject>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ANGLES</subject><subject>MEASURING AREAS</subject><subject>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</subject><subject>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</subject><subject>MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE</subject><subject>MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TARIFF METERING APPARATUS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2021</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZDBwdApxDA5x9fTzcPUMUQj1c1FwcfQFshxDg91dg0McQ0JcQ1yDFFyCXD3cXZ1cg3gYWNMSc4pTeaE0N4Oqm2uIs4duakF-fGpxQWJyal5qSbyLq6GBkYGRoZGBgYmJoaOhMbHqAGaiJ8s</recordid><startdate>20211223</startdate><enddate>20211223</enddate><creator>Jäger, Thomas</creator><creator>Eder, Peter</creator><creator>Brandl, Alois</creator><creator>Ahrendt, Dirk</creator><creator>Thaler, Josef</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20211223</creationdate><title>ABTASTEINHEIT UND DAMIT AUSGESTATTETER DREHGEBER</title><author>Jäger, Thomas ; Eder, Peter ; Brandl, Alois ; Ahrendt, Dirk ; Thaler, Josef</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_DE102021200441A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>ger</language><creationdate>2021</creationdate><topic>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ANGLES</topic><topic>MEASURING AREAS</topic><topic>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</topic><topic>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</topic><topic>MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE</topic><topic>MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TARIFF METERING APPARATUS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>Jäger, Thomas</creatorcontrib><creatorcontrib>Eder, Peter</creatorcontrib><creatorcontrib>Brandl, Alois</creatorcontrib><creatorcontrib>Ahrendt, Dirk</creatorcontrib><creatorcontrib>Thaler, Josef</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>Jäger, Thomas</au><au>Eder, Peter</au><au>Brandl, Alois</au><au>Ahrendt, Dirk</au><au>Thaler, Josef</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>ABTASTEINHEIT UND DAMIT AUSGESTATTETER DREHGEBER</title><date>2021-12-23</date><risdate>2021</risdate><abstract>Die Erfindung betrifft eine Abtasteinheit (1) zur Abtastung eines relativ zur Abtasteinheit (1) um eine Achse (A) drehbaren Skalenelements (2). 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A scanning unit is arranged to scan a scale element that is rotatable about an axis relative to the scanning unit. The scanning unit includes a circuit board, which includes a substrate having a first surface, a second surface arranged opposite the first surface, and a circumferential third surface. A transducer system is arranged on the first surface, and electronic components are mounted on the second surface. The third surface includes a plurality of concave indentations. The scanning unit furthermore includes a metal frame having an uninterrupted first recess, which is radially restricted by an inner side of the metal frame, the inner side having a plurality of inwardly projecting elements. The inwardly projecting elements engage with the concave indentations such that the substrate is fixed in place in the metal frame under mechanical tension.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
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MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS
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