Verfahren zum Parametrieren mindestens einer Vorrichtung
In einem Verfahren zum Parametrieren mindestens einer Vorrichtung (30) wird mindestens ein Umgebungswert (31) der Vorrichtung mittels mindestens eines Sensors und/oder einer Automatisierungskomponente ermittelt. Es wird geprüft, ob dem mindestens einen Umgebungswert in einer Parameterdatenbank (32)...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | In einem Verfahren zum Parametrieren mindestens einer Vorrichtung (30) wird mindestens ein Umgebungswert (31) der Vorrichtung mittels mindestens eines Sensors und/oder einer Automatisierungskomponente ermittelt. Es wird geprüft, ob dem mindestens einen Umgebungswert in einer Parameterdatenbank (32) Parameter zugeordnet sind. Wenn dem mindestens einen Umgebungswert (31) in der Parameterdatenbank (32) Parameter zugeordnet sind, wird die Vorrichtung (30) mit Parametern aus der Parameterdatenbank (32) parametriert. Wenn dem mindestens einen Umgebungswert (31) in der Parameterdatenbank (32) keine Parameter zugeordnet sind, wird die Vorrichtung (30) mit neuen Parametern parametriert. Die neuen Parameter werden anschließend in der Parameterdatenbank (32) dem mindestens einen Umgebungswert (31) zugeordnet (54).
In a method for parameterising at least one device (30), at least one environmental value (31) of the device is determined via at least one sensor and/or an automation component. It is checked whether parameters are allocated to the at least one environmental value in a parameter database (32). If parameters are allocated to the at least one environmental value (31) in the parameter database (32), the device (30) is parameterised with parameters from the parameter database (32). If no parameters are allocated to the at least one environmental value (31) in the parameter database (32), the device (30) is parameterised with new parameters. The new parameters are then allocated (54) to the at least one environmental value (31) in the parameter database (32). |
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