Spektrometer mit einer Trägerplatte und mit einem Gehäuse
Spektrometer zur spektralen Analyse einer elektromagnetischen Strahlung, umfassend:- einen Eintrittsspalt (03) zum Eintritt der zu analysierenden elektromagnetischen Strahlung;- ein abbildendes Gitter zum Beugen der eingetretenen elektromagnetischen Strahlung;- einen sich zumindest in eine Richtung...
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , , |
|---|---|
| Format: | Patent |
| Sprache: | ger |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Volltext bestellen |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| container_end_page | |
|---|---|
| container_issue | |
| container_start_page | |
| container_title | |
| container_volume | |
| creator | Barth, Michael Hofmann, Jens Dobermann, Dirk |
| description | Spektrometer zur spektralen Analyse einer elektromagnetischen Strahlung, umfassend:- einen Eintrittsspalt (03) zum Eintritt der zu analysierenden elektromagnetischen Strahlung;- ein abbildendes Gitter zum Beugen der eingetretenen elektromagnetischen Strahlung;- einen sich zumindest in eine Richtung erstreckenden Detektor zum Detektieren der gebeugten elektromagnetischen Strahlung;- eine Trägerplatte (01), in welcher der Eintrittsspalt (03) angeordnet ist;- ein auf der Trägerplatte (01) gelagertes Gehäuse (02), welches den Detektor und den Eintrittsspalt (03) bedeckt und das abbildende Gitter trägt; und- mindestens drei Loslager (04, 06, 07) zur schwimmenden Lagerung des Gehäuses (02) auf der Trägerplatte (01), wobei die Loslager (04, 06, 07) jeweils eine Verschiebung zwischen dem Gehäuse (02) und der Trägerplatte (1) in einer Richtungsachse (08) freigeben, wobei sich die Richtungsachsen (08) der Loslager (04, 06, 07) in einem Schnittpunkt (09) schneiden, wobei eine thermisch bedingte Ausdehnung des Gehäuses (02) gegenüber der Trägerplatte (01) freigegeben ist und im Übrigen die Lagerung vollständig bestimmt ist, sodass das Gehäuse (02) nicht gegenüber der Trägerplatte (01) bewegt werden kann, und wobei die Loslager (04, 06, 07) um eine mittlere Achse des Gehäuses (02) herum verteilt sind.
The present invention relates to a spectrometer for spectral analysis of electromagnetic radiation. The spectrometer comprises an entry slit for entry of the electromagnetic radiation to be analysed and an imaging grating for diffraction of the electromagnetic radiation which has entered. The spectrometer additionally comprises a detector extending at least in one direction to detect the diffracted electromagnetic radiation, and also a support plate in which the entry slit is located. The spectrometer further comprises a housing which is mounted on the support plate, covers the detector and the entry slit and supports the imaging grating. According to the invention the spectrometer further comprises at least three floating bearings for floating mounting of the housing on the support plate, the floating bearings each enabling a displacement between the housing and the support plate on a directional axis and being distributed about a central axis of the housing. |
| format | Patent |
| fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_DE102020118822B4</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>DE102020118822B4</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_DE102020118822B43</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZLAOLkjNLinKz00tSS1SyM0sUUjNzAOyQooOL0lPLSrISSwpSVUozUuBy-UquKdmHF5SWpzKw8CalphTnMoLpbkZVN1cQ5w9dFML8uNTiwsSk1PzUkviXVwNDYyA0NDQwsLIyMnEmFh1AMWnMjg</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>Spektrometer mit einer Trägerplatte und mit einem Gehäuse</title><source>esp@cenet</source><creator>Barth, Michael ; Hofmann, Jens ; Dobermann, Dirk</creator><creatorcontrib>Barth, Michael ; Hofmann, Jens ; Dobermann, Dirk</creatorcontrib><description>Spektrometer zur spektralen Analyse einer elektromagnetischen Strahlung, umfassend:- einen Eintrittsspalt (03) zum Eintritt der zu analysierenden elektromagnetischen Strahlung;- ein abbildendes Gitter zum Beugen der eingetretenen elektromagnetischen Strahlung;- einen sich zumindest in eine Richtung erstreckenden Detektor zum Detektieren der gebeugten elektromagnetischen Strahlung;- eine Trägerplatte (01), in welcher der Eintrittsspalt (03) angeordnet ist;- ein auf der Trägerplatte (01) gelagertes Gehäuse (02), welches den Detektor und den Eintrittsspalt (03) bedeckt und das abbildende Gitter trägt; und- mindestens drei Loslager (04, 06, 07) zur schwimmenden Lagerung des Gehäuses (02) auf der Trägerplatte (01), wobei die Loslager (04, 06, 07) jeweils eine Verschiebung zwischen dem Gehäuse (02) und der Trägerplatte (1) in einer Richtungsachse (08) freigeben, wobei sich die Richtungsachsen (08) der Loslager (04, 06, 07) in einem Schnittpunkt (09) schneiden, wobei eine thermisch bedingte Ausdehnung des Gehäuses (02) gegenüber der Trägerplatte (01) freigegeben ist und im Übrigen die Lagerung vollständig bestimmt ist, sodass das Gehäuse (02) nicht gegenüber der Trägerplatte (01) bewegt werden kann, und wobei die Loslager (04, 06, 07) um eine mittlere Achse des Gehäuses (02) herum verteilt sind.
The present invention relates to a spectrometer for spectral analysis of electromagnetic radiation. The spectrometer comprises an entry slit for entry of the electromagnetic radiation to be analysed and an imaging grating for diffraction of the electromagnetic radiation which has entered. The spectrometer additionally comprises a detector extending at least in one direction to detect the diffracted electromagnetic radiation, and also a support plate in which the entry slit is located. The spectrometer further comprises a housing which is mounted on the support plate, covers the detector and the entry slit and supports the imaging grating. According to the invention the spectrometer further comprises at least three floating bearings for floating mounting of the housing on the support plate, the floating bearings each enabling a displacement between the housing and the support plate on a directional axis and being distributed about a central axis of the housing.</description><language>ger</language><subject>COLORIMETRY ; MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT ; MEASURING ; PHYSICS ; RADIATION PYROMETRY ; TESTING</subject><creationdate>2022</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20220512&DB=EPODOC&CC=DE&NR=102020118822B4$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20220512&DB=EPODOC&CC=DE&NR=102020118822B4$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>Barth, Michael</creatorcontrib><creatorcontrib>Hofmann, Jens</creatorcontrib><creatorcontrib>Dobermann, Dirk</creatorcontrib><title>Spektrometer mit einer Trägerplatte und mit einem Gehäuse</title><description>Spektrometer zur spektralen Analyse einer elektromagnetischen Strahlung, umfassend:- einen Eintrittsspalt (03) zum Eintritt der zu analysierenden elektromagnetischen Strahlung;- ein abbildendes Gitter zum Beugen der eingetretenen elektromagnetischen Strahlung;- einen sich zumindest in eine Richtung erstreckenden Detektor zum Detektieren der gebeugten elektromagnetischen Strahlung;- eine Trägerplatte (01), in welcher der Eintrittsspalt (03) angeordnet ist;- ein auf der Trägerplatte (01) gelagertes Gehäuse (02), welches den Detektor und den Eintrittsspalt (03) bedeckt und das abbildende Gitter trägt; und- mindestens drei Loslager (04, 06, 07) zur schwimmenden Lagerung des Gehäuses (02) auf der Trägerplatte (01), wobei die Loslager (04, 06, 07) jeweils eine Verschiebung zwischen dem Gehäuse (02) und der Trägerplatte (1) in einer Richtungsachse (08) freigeben, wobei sich die Richtungsachsen (08) der Loslager (04, 06, 07) in einem Schnittpunkt (09) schneiden, wobei eine thermisch bedingte Ausdehnung des Gehäuses (02) gegenüber der Trägerplatte (01) freigegeben ist und im Übrigen die Lagerung vollständig bestimmt ist, sodass das Gehäuse (02) nicht gegenüber der Trägerplatte (01) bewegt werden kann, und wobei die Loslager (04, 06, 07) um eine mittlere Achse des Gehäuses (02) herum verteilt sind.
The present invention relates to a spectrometer for spectral analysis of electromagnetic radiation. The spectrometer comprises an entry slit for entry of the electromagnetic radiation to be analysed and an imaging grating for diffraction of the electromagnetic radiation which has entered. The spectrometer additionally comprises a detector extending at least in one direction to detect the diffracted electromagnetic radiation, and also a support plate in which the entry slit is located. The spectrometer further comprises a housing which is mounted on the support plate, covers the detector and the entry slit and supports the imaging grating. According to the invention the spectrometer further comprises at least three floating bearings for floating mounting of the housing on the support plate, the floating bearings each enabling a displacement between the housing and the support plate on a directional axis and being distributed about a central axis of the housing.</description><subject>COLORIMETRY</subject><subject>MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT</subject><subject>MEASURING</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>RADIATION PYROMETRY</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2022</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZLAOLkjNLinKz00tSS1SyM0sUUjNzAOyQooOL0lPLSrISSwpSVUozUuBy-UquKdmHF5SWpzKw8CalphTnMoLpbkZVN1cQ5w9dFML8uNTiwsSk1PzUkviXVwNDYyA0NDQwsLIyMnEmFh1AMWnMjg</recordid><startdate>20220512</startdate><enddate>20220512</enddate><creator>Barth, Michael</creator><creator>Hofmann, Jens</creator><creator>Dobermann, Dirk</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20220512</creationdate><title>Spektrometer mit einer Trägerplatte und mit einem Gehäuse</title><author>Barth, Michael ; Hofmann, Jens ; Dobermann, Dirk</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_DE102020118822B43</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>ger</language><creationdate>2022</creationdate><topic>COLORIMETRY</topic><topic>MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT</topic><topic>MEASURING</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>RADIATION PYROMETRY</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>Barth, Michael</creatorcontrib><creatorcontrib>Hofmann, Jens</creatorcontrib><creatorcontrib>Dobermann, Dirk</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>Barth, Michael</au><au>Hofmann, Jens</au><au>Dobermann, Dirk</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Spektrometer mit einer Trägerplatte und mit einem Gehäuse</title><date>2022-05-12</date><risdate>2022</risdate><abstract>Spektrometer zur spektralen Analyse einer elektromagnetischen Strahlung, umfassend:- einen Eintrittsspalt (03) zum Eintritt der zu analysierenden elektromagnetischen Strahlung;- ein abbildendes Gitter zum Beugen der eingetretenen elektromagnetischen Strahlung;- einen sich zumindest in eine Richtung erstreckenden Detektor zum Detektieren der gebeugten elektromagnetischen Strahlung;- eine Trägerplatte (01), in welcher der Eintrittsspalt (03) angeordnet ist;- ein auf der Trägerplatte (01) gelagertes Gehäuse (02), welches den Detektor und den Eintrittsspalt (03) bedeckt und das abbildende Gitter trägt; und- mindestens drei Loslager (04, 06, 07) zur schwimmenden Lagerung des Gehäuses (02) auf der Trägerplatte (01), wobei die Loslager (04, 06, 07) jeweils eine Verschiebung zwischen dem Gehäuse (02) und der Trägerplatte (1) in einer Richtungsachse (08) freigeben, wobei sich die Richtungsachsen (08) der Loslager (04, 06, 07) in einem Schnittpunkt (09) schneiden, wobei eine thermisch bedingte Ausdehnung des Gehäuses (02) gegenüber der Trägerplatte (01) freigegeben ist und im Übrigen die Lagerung vollständig bestimmt ist, sodass das Gehäuse (02) nicht gegenüber der Trägerplatte (01) bewegt werden kann, und wobei die Loslager (04, 06, 07) um eine mittlere Achse des Gehäuses (02) herum verteilt sind.
The present invention relates to a spectrometer for spectral analysis of electromagnetic radiation. The spectrometer comprises an entry slit for entry of the electromagnetic radiation to be analysed and an imaging grating for diffraction of the electromagnetic radiation which has entered. The spectrometer additionally comprises a detector extending at least in one direction to detect the diffracted electromagnetic radiation, and also a support plate in which the entry slit is located. The spectrometer further comprises a housing which is mounted on the support plate, covers the detector and the entry slit and supports the imaging grating. According to the invention the spectrometer further comprises at least three floating bearings for floating mounting of the housing on the support plate, the floating bearings each enabling a displacement between the housing and the support plate on a directional axis and being distributed about a central axis of the housing.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
| fulltext | fulltext_linktorsrc |
| identifier | |
| ispartof | |
| issn | |
| language | ger |
| recordid | cdi_epo_espacenet_DE102020118822B4 |
| source | esp@cenet |
| subjects | COLORIMETRY MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT MEASURING PHYSICS RADIATION PYROMETRY TESTING |
| title | Spektrometer mit einer Trägerplatte und mit einem Gehäuse |
| url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-02T01%3A55%3A31IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=Barth,%20Michael&rft.date=2022-05-12&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EDE102020118822B4%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |