Verfahren zur Charakterisierung von Schmelz- und Kristallisationseffekten von degradierten Kunststoffen

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Charakterisierung von Schmelz- und Kristallisationseffekten von degradierten Kunststoffen mittels einer dynamischen Differenzkalorimetrie-Analyse. Erfindungsgemäß werden zur Erzeugung einer Materialprobe (P1 bis Pn) eines degradierten Kunststoffes an dem Kuns...

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Hauptverfasser: Jarsen, Lisa, Giese, Ulrich, Pfrommer, Jürgen, Bressel, Arnd
Format: Patent
Sprache:ger
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creator Jarsen, Lisa
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description Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Charakterisierung von Schmelz- und Kristallisationseffekten von degradierten Kunststoffen mittels einer dynamischen Differenzkalorimetrie-Analyse. Erfindungsgemäß werden zur Erzeugung einer Materialprobe (P1 bis Pn) eines degradierten Kunststoffes an dem Kunststoff mittels eines Mikrotoms ausgehend von einer äußeren Oberfläche mehrere parallele Dünnschnitte durchgeführt, so dass Materialscheiben mit einer vorgegebenen Schichtdicke entstehen. Aus den Materialscheiben wird jeweils zumindest eine Materialprobe (P1 bis Pn) mit einer definierten Masse entnommen und die Materialproben (P1 bis Pn) werden zur Durchführung der Differenzkalorimetrie-Analyse jeweils mit einer mittels des Mikrotoms erzeugten Schnittfläche planar auf einer Innenfläche jeweils eines Probentiegels aufliegend angeordnet.
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Erfindungsgemäß werden zur Erzeugung einer Materialprobe (P1 bis Pn) eines degradierten Kunststoffes an dem Kunststoff mittels eines Mikrotoms ausgehend von einer äußeren Oberfläche mehrere parallele Dünnschnitte durchgeführt, so dass Materialscheiben mit einer vorgegebenen Schichtdicke entstehen. Aus den Materialscheiben wird jeweils zumindest eine Materialprobe (P1 bis Pn) mit einer definierten Masse entnommen und die Materialproben (P1 bis Pn) werden zur Durchführung der Differenzkalorimetrie-Analyse jeweils mit einer mittels des Mikrotoms erzeugten Schnittfläche planar auf einer Innenfläche jeweils eines Probentiegels aufliegend angeordnet.</description><language>ger</language><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2021</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20211230&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=102020117010A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76290</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20211230&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=102020117010A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>Jarsen, Lisa</creatorcontrib><creatorcontrib>Giese, Ulrich</creatorcontrib><creatorcontrib>Pfrommer, Jürgen</creatorcontrib><creatorcontrib>Bressel, Arnd</creatorcontrib><title>Verfahren zur Charakterisierung von Schmelz- und Kristallisationseffekten von degradierten Kunststoffen</title><description>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Charakterisierung von Schmelz- und Kristallisationseffekten von degradierten Kunststoffen mittels einer dynamischen Differenzkalorimetrie-Analyse. 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Erfindungsgemäß werden zur Erzeugung einer Materialprobe (P1 bis Pn) eines degradierten Kunststoffes an dem Kunststoff mittels eines Mikrotoms ausgehend von einer äußeren Oberfläche mehrere parallele Dünnschnitte durchgeführt, so dass Materialscheiben mit einer vorgegebenen Schichtdicke entstehen. Aus den Materialscheiben wird jeweils zumindest eine Materialprobe (P1 bis Pn) mit einer definierten Masse entnommen und die Materialproben (P1 bis Pn) werden zur Durchführung der Differenzkalorimetrie-Analyse jeweils mit einer mittels des Mikrotoms erzeugten Schnittfläche planar auf einer Innenfläche jeweils eines Probentiegels aufliegend angeordnet.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
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