Vorrichtung für integrierte Speicher-Selbsttests mit Fehlererkennungs- und -Korrekturcodebekanntheit

Technologien für integrierte Selbsttests eines Speicherarrays unter Verwendung einer Fehlererkennungs- und -korrekturcodebekanntheit enthalten, dass Datenfehler zwischen in das Speicherarray geschriebenen Pseudozufallsdaten und den aus dem Speicherarray wieder ausgelesenen Daten identifiziert und Datenfehler, die als korrigierbar bestimmt werden, ignoriert werden. Die Datenfehler können als korrigierbar bestimmt werden, wenn eine Fehlerkorrekturschaltung diese Fehler korrigieren kann oder wenn die Anzahl von Fehlern pro Speicherstück geringer als eine Anzahl von durch die Fehlerkorrekturschaltung korrigierbaren Fehlern ist. Technologies for built-in self-testing of a memory array using error detection and correction code knowledge include identifying data errors between pseudo random data written to the memory array and the data read back from the memory array and ignoring those data errors determined to be correctable. The data errors may be determined to be correctable if an error corrector circuit can correct those errors or if the number of errors per memory chuck is less than a number of errors correctable by the error correct circuit.