Verfahren und Vorrichtung zur Analyse eines Erzeugnisses

Verfahren zur Analyse eines Erzeugnisses, das eine mechanische Struktur und wenigstens eine elektrische bzw. elektronische Funktionskomponente aufweist, wobei das Verfahren die folgenden Schritte aufweist: Bereitstellen eines die mechanische Struktur des Erzeugnisses charakterisierenden Konstruktionsmodells, Ermitteln von wenigstens einer parasitären elektrischen Größe des Erzeugnisses in Abhängigkeit von dem Konstruktionsmodell, optional, Bereitstellen eines die Funktion der wenigstens einen Funktionskomponente charakterisierenden funktionalen Ersatzschaltbilds, Ermitteln wenigstens einer ersten Sensitivität, die eine Änderung der wenigstens einen parasitären elektrischen Größe in Abhängigkeit einer Änderung wenigstens eines Parameters des Konstruktionsmodells charakterisiert.