Positionsmesseinrichtung

Die Erfindung betrifft eine Positionsmesseinrichtung zur Messung der Relativlage zweier Objekte in einer Vorschubrichtung und in weiteren Freiheitsgraden. Hierzu weist der Trägerkörper (1) zumindest drei in Vorschubrichtung verlaufende Oberflächen (O1, O2, O3) auf, von denen jede eine erste Messteil...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Mitterleitner, Josef, Pucher, Wolfgang, Becker, Thomas
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR PHYSICS TARIFF METERING APPARATUS TESTING
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