Verfahren zur Bestimmung der zeitlichen Entwicklung eines Betriebsparameters eines Leistungshalbleitermoduls und Leistungshalbleitermodul

Es wird ein Leistungshalbleitermodul und ein ein Verfahren zur algorithmischen Bestimmung der zeitlichen Entwicklung mindestens eines ersten Betriebsparameters dieses Leistungshalbleitermoduls mit mindestens einem Leistungshalbleiterbauelement, wobei zur Bestimmung der zeitlichen Entwicklung eine Me...

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Hauptverfasser: Schmidt, Christopher, Röblitz, Martin, Wintrich, Arendt
Format: Patent
Sprache:ger
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container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator Schmidt, Christopher
Röblitz, Martin
Wintrich, Arendt
description Es wird ein Leistungshalbleitermodul und ein ein Verfahren zur algorithmischen Bestimmung der zeitlichen Entwicklung mindestens eines ersten Betriebsparameters dieses Leistungshalbleitermoduls mit mindestens einem Leistungshalbleiterbauelement, wobei zur Bestimmung der zeitlichen Entwicklung eine Mehrzahl von Eingangsmodulparametern und mindestens ein Eingangsbetriebsparameter, wobei dieser insbesondere der zeitliche Zielverlauf des Ausgangsstroms des Leistungshalbleitermoduls ist, verwendet werden und wobei die Bestimmung der zeitlichen Entwicklung dieses ersten Betriebsparameters mittels zweier Algorithmen erfolgt, wobei der erste Algorithmus in einem ersten hohen Frequenzbereich des Ausgangsstroms verwendet wird und hierbei der erste Betriebsparameter für mehr als eine Perioden des Ausgangsstroms nur einmal bestimmt wird, und wobei der zweite Algorithmus in einem zweiten niedrigen Frequenzbereich des Ausgangsstroms verwendet wird und hierbei pro Periode des Ausgangsstroms der erste Betriebsparameter mehrfach bestimmt wird oder wobei bei einem Ausgangsstrom in Form eines temporären Gleichstroms in einem diesem zugeordneten Zeitabschnitt der erste Betriebsparameter mehrfach bestimmt.
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_DE102019111692B3</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>DE102019111692B3</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_DE102019111692B33</originalsourceid><addsrcrecordid>eNqNzbEKwjAUheEuDqK-QxZHoWlB6FqtODiKq6TtqQ0mabk3Qegb-NZG6Co43eH7OXeZvG-gTvUEJ6ZAogR7bW1wD9GCxATtjW76qJXzL908zZegHTi2njRqHhUpCw_iGS7Q7GPHvTK1iRMgO7TBsAiu_anrZNEpw9jMd5VsT9X1cN5hHO6IXxo4-PuxkmmWykJKuS-yMs__7T7sUVCg</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>Verfahren zur Bestimmung der zeitlichen Entwicklung eines Betriebsparameters eines Leistungshalbleitermoduls und Leistungshalbleitermodul</title><source>esp@cenet</source><creator>Schmidt, Christopher ; Röblitz, Martin ; Wintrich, Arendt</creator><creatorcontrib>Schmidt, Christopher ; Röblitz, Martin ; Wintrich, Arendt</creatorcontrib><description>Es wird ein Leistungshalbleitermodul und ein ein Verfahren zur algorithmischen Bestimmung der zeitlichen Entwicklung mindestens eines ersten Betriebsparameters dieses Leistungshalbleitermoduls mit mindestens einem Leistungshalbleiterbauelement, wobei zur Bestimmung der zeitlichen Entwicklung eine Mehrzahl von Eingangsmodulparametern und mindestens ein Eingangsbetriebsparameter, wobei dieser insbesondere der zeitliche Zielverlauf des Ausgangsstroms des Leistungshalbleitermoduls ist, verwendet werden und wobei die Bestimmung der zeitlichen Entwicklung dieses ersten Betriebsparameters mittels zweier Algorithmen erfolgt, wobei der erste Algorithmus in einem ersten hohen Frequenzbereich des Ausgangsstroms verwendet wird und hierbei der erste Betriebsparameter für mehr als eine Perioden des Ausgangsstroms nur einmal bestimmt wird, und wobei der zweite Algorithmus in einem zweiten niedrigen Frequenzbereich des Ausgangsstroms verwendet wird und hierbei pro Periode des Ausgangsstroms der erste Betriebsparameter mehrfach bestimmt wird oder wobei bei einem Ausgangsstrom in Form eines temporären Gleichstroms in einem diesem zugeordneten Zeitabschnitt der erste Betriebsparameter mehrfach bestimmt.</description><language>ger</language><subject>MEASURING ; MEASURING ELECTRIC VARIABLES ; MEASURING MAGNETIC VARIABLES ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2020</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20200326&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=102019111692B3$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20200326&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=102019111692B3$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>Schmidt, Christopher</creatorcontrib><creatorcontrib>Röblitz, Martin</creatorcontrib><creatorcontrib>Wintrich, Arendt</creatorcontrib><title>Verfahren zur Bestimmung der zeitlichen Entwicklung eines Betriebsparameters eines Leistungshalbleitermoduls und Leistungshalbleitermodul</title><description>Es wird ein Leistungshalbleitermodul und ein ein Verfahren zur algorithmischen Bestimmung der zeitlichen Entwicklung mindestens eines ersten Betriebsparameters dieses Leistungshalbleitermoduls mit mindestens einem Leistungshalbleiterbauelement, wobei zur Bestimmung der zeitlichen Entwicklung eine Mehrzahl von Eingangsmodulparametern und mindestens ein Eingangsbetriebsparameter, wobei dieser insbesondere der zeitliche Zielverlauf des Ausgangsstroms des Leistungshalbleitermoduls ist, verwendet werden und wobei die Bestimmung der zeitlichen Entwicklung dieses ersten Betriebsparameters mittels zweier Algorithmen erfolgt, wobei der erste Algorithmus in einem ersten hohen Frequenzbereich des Ausgangsstroms verwendet wird und hierbei der erste Betriebsparameter für mehr als eine Perioden des Ausgangsstroms nur einmal bestimmt wird, und wobei der zweite Algorithmus in einem zweiten niedrigen Frequenzbereich des Ausgangsstroms verwendet wird und hierbei pro Periode des Ausgangsstroms der erste Betriebsparameter mehrfach bestimmt wird oder wobei bei einem Ausgangsstrom in Form eines temporären Gleichstroms in einem diesem zugeordneten Zeitabschnitt der erste Betriebsparameter mehrfach bestimmt.</description><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</subject><subject>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2020</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNzbEKwjAUheEuDqK-QxZHoWlB6FqtODiKq6TtqQ0mabk3Qegb-NZG6Co43eH7OXeZvG-gTvUEJ6ZAogR7bW1wD9GCxATtjW76qJXzL908zZegHTi2njRqHhUpCw_iGS7Q7GPHvTK1iRMgO7TBsAiu_anrZNEpw9jMd5VsT9X1cN5hHO6IXxo4-PuxkmmWykJKuS-yMs__7T7sUVCg</recordid><startdate>20200326</startdate><enddate>20200326</enddate><creator>Schmidt, Christopher</creator><creator>Röblitz, Martin</creator><creator>Wintrich, Arendt</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20200326</creationdate><title>Verfahren zur Bestimmung der zeitlichen Entwicklung eines Betriebsparameters eines Leistungshalbleitermoduls und Leistungshalbleitermodul</title><author>Schmidt, Christopher ; Röblitz, Martin ; Wintrich, Arendt</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_DE102019111692B33</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>ger</language><creationdate>2020</creationdate><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</topic><topic>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>Schmidt, Christopher</creatorcontrib><creatorcontrib>Röblitz, Martin</creatorcontrib><creatorcontrib>Wintrich, Arendt</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>Schmidt, Christopher</au><au>Röblitz, Martin</au><au>Wintrich, Arendt</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Verfahren zur Bestimmung der zeitlichen Entwicklung eines Betriebsparameters eines Leistungshalbleitermoduls und Leistungshalbleitermodul</title><date>2020-03-26</date><risdate>2020</risdate><abstract>Es wird ein Leistungshalbleitermodul und ein ein Verfahren zur algorithmischen Bestimmung der zeitlichen Entwicklung mindestens eines ersten Betriebsparameters dieses Leistungshalbleitermoduls mit mindestens einem Leistungshalbleiterbauelement, wobei zur Bestimmung der zeitlichen Entwicklung eine Mehrzahl von Eingangsmodulparametern und mindestens ein Eingangsbetriebsparameter, wobei dieser insbesondere der zeitliche Zielverlauf des Ausgangsstroms des Leistungshalbleitermoduls ist, verwendet werden und wobei die Bestimmung der zeitlichen Entwicklung dieses ersten Betriebsparameters mittels zweier Algorithmen erfolgt, wobei der erste Algorithmus in einem ersten hohen Frequenzbereich des Ausgangsstroms verwendet wird und hierbei der erste Betriebsparameter für mehr als eine Perioden des Ausgangsstroms nur einmal bestimmt wird, und wobei der zweite Algorithmus in einem zweiten niedrigen Frequenzbereich des Ausgangsstroms verwendet wird und hierbei pro Periode des Ausgangsstroms der erste Betriebsparameter mehrfach bestimmt wird oder wobei bei einem Ausgangsstrom in Form eines temporären Gleichstroms in einem diesem zugeordneten Zeitabschnitt der erste Betriebsparameter mehrfach bestimmt.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language ger
recordid cdi_epo_espacenet_DE102019111692B3
source esp@cenet
subjects MEASURING
MEASURING ELECTRIC VARIABLES
MEASURING MAGNETIC VARIABLES
PHYSICS
TESTING
title Verfahren zur Bestimmung der zeitlichen Entwicklung eines Betriebsparameters eines Leistungshalbleitermoduls und Leistungshalbleitermodul
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2024-12-23T20%3A16%3A40IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=Schmidt,%20Christopher&rft.date=2020-03-26&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EDE102019111692B3%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true