Verfahren zur Bestimmung der zeitlichen Entwicklung eines Betriebsparameters eines Leistungshalbleitermoduls und Leistungshalbleitermodul
Es wird ein Leistungshalbleitermodul und ein ein Verfahren zur algorithmischen Bestimmung der zeitlichen Entwicklung mindestens eines ersten Betriebsparameters dieses Leistungshalbleitermoduls mit mindestens einem Leistungshalbleiterbauelement, wobei zur Bestimmung der zeitlichen Entwicklung eine Me...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | Es wird ein Leistungshalbleitermodul und ein ein Verfahren zur algorithmischen Bestimmung der zeitlichen Entwicklung mindestens eines ersten Betriebsparameters dieses Leistungshalbleitermoduls mit mindestens einem Leistungshalbleiterbauelement, wobei zur Bestimmung der zeitlichen Entwicklung eine Mehrzahl von Eingangsmodulparametern und mindestens ein Eingangsbetriebsparameter, wobei dieser insbesondere der zeitliche Zielverlauf des Ausgangsstroms des Leistungshalbleitermoduls ist, verwendet werden und wobei die Bestimmung der zeitlichen Entwicklung dieses ersten Betriebsparameters mittels zweier Algorithmen erfolgt, wobei der erste Algorithmus in einem ersten hohen Frequenzbereich des Ausgangsstroms verwendet wird und hierbei der erste Betriebsparameter für mehr als eine Perioden des Ausgangsstroms nur einmal bestimmt wird, und wobei der zweite Algorithmus in einem zweiten niedrigen Frequenzbereich des Ausgangsstroms verwendet wird und hierbei pro Periode des Ausgangsstroms der erste Betriebsparameter mehrfach bestimmt wird oder wobei bei einem Ausgangsstrom in Form eines temporären Gleichstroms in einem diesem zugeordneten Zeitabschnitt der erste Betriebsparameter mehrfach bestimmt. |
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