Vorrichtung und Verfahren zur optischen Vermessung von dreidimensionalen Oberflächen

Vorrichtung und Verfahren zur optischen Vermessung von dreidimensionalen Oberflächen

Vorrichtung (V) zur optischen Vermessung von dreidimensionalen Oberflächen, umfassend zumindest eine Kamera und mehrere räumlich verteilte Lichtprojektionen, wobei jede Lichtprojektion zumindest umfasst: - eine Lichtquelle (1) zur Erzeugung von Licht, - eine Linse (2) zur Fokussierung des Lichts, wo...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Al-Hamadi, Ayoub Kassim Mahmod, Lilienblum, Erik
Format: Patent
Sprache:ger
Schlagworte:
MEASURING
MEASURING ANGLES
MEASURING AREAS
MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS
PHYSICS
TESTING
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creator Al-Hamadi, Ayoub Kassim Mahmod
Lilienblum, Erik
description Vorrichtung (V) zur optischen Vermessung von dreidimensionalen Oberflächen, umfassend zumindest eine Kamera und mehrere räumlich verteilte Lichtprojektionen, wobei jede Lichtprojektion zumindest umfasst: - eine Lichtquelle (1) zur Erzeugung von Licht, - eine Linse (2) zur Fokussierung des Lichts, wobei aus der Lichtquelle (1) direkt über die Linse (2) ein Lichtstrahl (3) auf eine Messoberfläche (5) treffen kann, derart dass ein einzelner Lichtfleck (4) auf der Messoberfläche (5) abbildbar ist und wobei eine Überlagerung aller Lichtstrahlen (3') eine räumliche Helligkeitsverteilung ergibt, wodurch auf der gesamten Messoberfläche (5) ein statistisches Lichtmuster (4') erzeugbar ist, und- ein Lichtquellen-Array (1') und ein Linsen-Array (2'), wobei über jede Lichtquelle des Lichtquellen-Arrays (1') mit jeder Linse des Linsenarrays (2') eine Lichtprojektion erzeugbar ist, und - umfassend zumindest einen Spiegel (6), der zur Erhöhung der Anzahl der erzeugbaren Lichtprojektionen oder Lichtflecken (3') dient, wobei der Spiegel (6) vorzugsweise seitlich benachbart zwischen dem Lichtquellenarray (1') und der Messoberfläche (5) angeordnet ist, derart dass entweder das von den Lichtquellen seitlich abgestrahlte Licht über den Spiegel (6) auf das Linsenarray (2') reflektierbar ist, oder dass seitlich abgestrahlte Projektionen auf das Messfeld (5) umgelenkt werden und - wobei eine durch m teilbare Anzahl von n unterschiedlichen Lichtmustern (4'') dadurch erzeugbar ist, dass jede Lichtquelle (1) in genau n/m Lichtmustern (4') eingeschaltet ist.
format Patent
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