Chip und Verfahren zum Testen einer Verarbeitungskomponente eines Chips

In accordance with one embodiment, a chip is provided which includes an interface configured to receive test data and masking data, a processing component having a plurality of scan chains. Each scan chain is configured to generate a test response on the basis of a processing of the test data. The c...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Janke, Markus, Pfannkuchen, Ulrike, Tille, Daniel
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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