Verfahren zur Prüfung eines Selbsthaltemagneten eines Schalters und Prüfeinrichtung zur Durchführung des Verfahrens

Verfahren zur Prüfung einer Wicklung (14) auf Drahtbruch eines Selbsthaltemagneten (15) eines Schalters (1), wobei der Schalter (1) aufweist:a) einen Schaltkontakt (2), der aus Kontaktelementen (3, 4) gebildet ist, die zum Öffnen des Schaltkontakts (2) mechanisch voneinander getrennt werden,b) eine...

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Fischer, Andreas, Widmann, Stefan
Format: Patent
Sprache:ger
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Beschreibung
Zusammenfassung:Verfahren zur Prüfung einer Wicklung (14) auf Drahtbruch eines Selbsthaltemagneten (15) eines Schalters (1), wobei der Schalter (1) aufweist:a) einen Schaltkontakt (2), der aus Kontaktelementen (3, 4) gebildet ist, die zum Öffnen des Schaltkontakts (2) mechanisch voneinander getrennt werden,b) eine elektronische Auslöseeinheit (ETU), von der jeweils der Strom über die Kontaktelemente (3, 4) überwacht und geprüft wird, ob eine stromabhängige Auslösebedingung für eine Auslösung erfüllt ist,c) einen Aktuator (5), der bei Erfüllung der Auslösebedingung von der Auslöseeinheit (ETU) über den Selbsthaltemagneten betätigt wird und von dem die Kontaktelemente (3, 4) nach Betätigung getrennt werden,d) einen elektrischen Energiespeicher (13), der vor der Auslösung auf eine vorgegebene Spannung aufgeladen und zur Trennung der Kontaktelemente (3, 4) über die Wicklung (14) des Selbsthaltemagneten (15) entladen wird, unde) einen Transistorschalter (16), der in Reihe mit der Wicklung (14) des Selbsthaltemagneten (15) mit dem Energiespeicher (13) parallel geschaltet ist, dadurch gekennzeichnet, dass- der Transistorschalter (16) geschlossen wird, nachdem die Auslösebedingung erfüllt ist, und- die Spannung des Energiespeichers (13) nach einer vorgegebenen Zeitdauer nach der Auslösung mit einem vorgegebenen Referenzwert verglichen und ein Fehlersignal ausgegeben wird, wenn die Spannung des Energiespeichers (13) noch oberhalb des Referenzwerts liegt. A method is disclosed for testing a latching solenoid of a switch and a testing device for carrying out the method is disclosed. The switch includes a switching contact, formed by contact elements mechanically separated from one another when the switching contact is open; an electronic trip unit, to respectively monitor the current passing via the contact elements and test whether a current-dependent tripping condition is satisfied; and an actuator, to separate contact elements after actuation, the trip unit actuating the actuator via the latching solenoid when the tripping condition is satisfied; and an electrical energy store, to charge to a voltage before the tripping and to be discharged via the latching solenoid. After a period of time after the tripping, the voltage of the energy store is compared with a reference value and a fault signal is output if the voltage of the energy store is above the reference.