Verfahren und Systeme zur Verstärkungskalibrierung von Gammastrahlendetektoren
Verfahren (130) und Systeme zur Verstärkungskalibrierung eines Gammastrahlendetektors werden angegeben. Ein Verfahren schließt das Messen (132) von Dunkelströmen für einen oder mehrere Lichtsensoren eines Gammastrahlendetektors und das Erzeugen (134) einer oder mehrerer Dunkelstromkurven unter Benut...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | Verfahren (130) und Systeme zur Verstärkungskalibrierung eines Gammastrahlendetektors werden angegeben. Ein Verfahren schließt das Messen (132) von Dunkelströmen für einen oder mehrere Lichtsensoren eines Gammastrahlendetektors und das Erzeugen (134) einer oder mehrerer Dunkelstromkurven unter Benutzung der gemessenen Dunkelströme ein. Das Verfahren schließt auch das Identifizieren (134) eines Übergangspunktes in der einen oder den mehreren Dunkelstromkurven und das Bestimmen (136) einer Durchbruchsspannung des einen oder der mehreren Lichtsensoren unter Nutzung des identifizierten Übergangspunktes ein. Das Verfahren schließt weiter das Festsetzen (138) einer Vorspannung des einen oder der mehreren Lichtsensoren auf der Grundlage der bestimmten Durchbruchsspannung ein.
A method for gain calibration of a gamma ray detector includes measuring signals generated by one or more light sensors of a gamma ray detector, generating one or more derived curves using the measured signals as a function of bias voltage and identifying a transition point in the one or more derived curves. The method also includes determining a breakdown voltage of the one or more light sensors using the identified transition point and setting a bias of the one or more light sensors based on the determined breakdown voltage. |
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