Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung von digitalen Einzelbildern von scheibenförmigen Elementen in einem Herstellungsprozess
Vorgeschlagen werden ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Erzeugung von digitalen Einzelbildern (EB) von scheibenförmigen Elementen, die insbesondere Wafer bzw. Solarzellen (SZ) sein können, welche in einem Herstellungsprozess hintereinander gereiht auf einem Förderband (BD) bewegt werden. Die Vor...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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description | Vorgeschlagen werden ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Erzeugung von digitalen Einzelbildern (EB) von scheibenförmigen Elementen, die insbesondere Wafer bzw. Solarzellen (SZ) sein können, welche in einem Herstellungsprozess hintereinander gereiht auf einem Förderband (BD) bewegt werden. Die Vorrichtung umfasst eine Kamera, die von den hintereinander gereihten scheibenförmigen Elementen (SZ) abschnittsweise, insbesondere zeilenweise, und quer zur Bewegungsrichtung fortlaufend digitale Bildaufnahmen macht und daraus gewonnene Bilddaten erfasst; sowie eine hardwarebasierte Bilddatenverarbeitungseinheit, die mittels einer Datenauswertung der erfassten Bilddaten Kantenübergänge (KA) erkennt, die eine Anfangsmarkierung (A) oder eine Endmarkierung für ein scheibenförmiges Element (SZ) anzeigen; und die mittels der erkannten Kantenübergänge eine Erzeugung der digitalen Einzelbilder (EZ) aus den erfassten Bilddaten steuert. |
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Die Vorrichtung umfasst eine Kamera, die von den hintereinander gereihten scheibenförmigen Elementen (SZ) abschnittsweise, insbesondere zeilenweise, und quer zur Bewegungsrichtung fortlaufend digitale Bildaufnahmen macht und daraus gewonnene Bilddaten erfasst; sowie eine hardwarebasierte Bilddatenverarbeitungseinheit, die mittels einer Datenauswertung der erfassten Bilddaten Kantenübergänge (KA) erkennt, die eine Anfangsmarkierung (A) oder eine Endmarkierung für ein scheibenförmiges Element (SZ) anzeigen; und die mittels der erkannten Kantenübergänge eine Erzeugung der digitalen Einzelbilder (EZ) aus den erfassten Bilddaten steuert.</description><language>ger</language><subject>CALCULATING ; COMPUTING ; COUNTING ; HANDLING RECORD CARRIERS ; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; PHYSICS ; PRESENTATION OF DATA ; RECOGNITION OF DATA ; RECORD CARRIERS ; TESTING</subject><creationdate>2010</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20100520&DB=EPODOC&CC=DE&NR=102009040649A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76289</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20100520&DB=EPODOC&CC=DE&NR=102009040649A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>STELZL, MICHAEL</creatorcontrib><title>Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung von digitalen Einzelbildern von scheibenförmigen Elementen in einem Herstellungsprozess</title><description>Vorgeschlagen werden ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Erzeugung von digitalen Einzelbildern (EB) von scheibenförmigen Elementen, die insbesondere Wafer bzw. 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