Optische Schaltvorrichtung

Die Erfindung betrifft eine optische Schaltvorrichtung, umfassend eine Anordnung von wenigstens zwei nebeneinander, insbesondere zueinander parallel, verlaufenden Lichtwellenleitern, bei der die Oberflächen von zwei benachbarten Lichtwellenleitern (L1, L2) miteinander innig, insbesondere stoffschlüs...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	BUEDDEFELD, JUERGEN, JOSCHKO, ANDREAS, ELSBROCK, JOSEF, HES, HEINZ, KUFFERATH, RAINER, BEENEN, CHRISTOPH, CONSBRUCH, JAN
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS MEASURING MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER,MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS OPTICS PHYSICS TARIFF METERING APPARATUS TESTING TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES ORSTRUCTURES TESTING STRUCTURES OR APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Die Erfindung betrifft eine optische Schaltvorrichtung, umfassend eine Anordnung von wenigstens zwei nebeneinander, insbesondere zueinander parallel, verlaufenden Lichtwellenleitern, bei der die Oberflächen von zwei benachbarten Lichtwellenleitern (L1, L2) miteinander innig, insbesondere stoffschlüssig, verbunden sind, so dass ein Mehrlagenaufbau (OSF) von wenigstens zwei Lichtwellenleitern (L1, L2) gebildet ist und zwei benachbarte Lichtwellenleiter (L1, L2) des Mehrlagenaufbaus voneinander abweichende Brechungsindizes aufweisen. Die Erfindung betrifft weiterhin eine Vorrichtung zur Messung mechanischer Verformungen und/oder Verlagerungen, die eine Schaltvorrichtung nach einem der vorherigen Ansprüche aufweist, deren Mehrlagenaufbau (OSF) von Lichtwellenleitern (L1, L2, L3) mit wenigstens einem mechanisch verformbaren oder örtlich verlagerbaren Element (M, A) verbunden/verbindbar ist. Die Erfindung betrifft auch ein Verfahren zur qualitativen und/oder quantitativen Bestimmung der Verformung und/oder örtlichen Verlagerung eines Elementes, wobei das Element (M, A) zumindest partiell mit einer Schaltvorrichtung (OSF) nach einem der vorherigen Ansprüche 1 bis 24 verbunden ist und die sich durch eine Verformung/Verlagerung ergebende Änderung einer Lichtauskopplung aus wenigstens einem Licht führenden Lichtwellenleiter und/oder Änderung einer Lichteinkopplung in einen Lichtwellenleiter des Mehrlagenaufbaus detektiert wird.