Diagnostics method for self-diagnosis of test systems, especially test benches for machines/machine tools, uses a test piece with its adjusting/supply devices and a set-up of measuring instruments

Adjusting and supply devices adjust one or more operating points from a space for input quantities and marginal values for a test system, especially a test bench for machines. A partial system for the test system is formed by a virtual model and a test operation is also followed up by using this mod...

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1. Verfasser: KERSCHBAUMER, STEFAN
Format: Patent
Sprache:eng ; ger
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creator KERSCHBAUMER, STEFAN
description Adjusting and supply devices adjust one or more operating points from a space for input quantities and marginal values for a test system, especially a test bench for machines. A partial system for the test system is formed by a virtual model and a test operation is also followed up by using this model parallel to a real test operation. An independent claim is also included for a test system, especially a test bench for machines. Ein Verfahren zur Selbstdiagnose von Versuchsanordnungen, insbesondere von Prüfständen für Arbeitsmaschinen, mit zumindest einem Prüfling, mit Stell- und Versorgungseinrichtungen für den Prüfling und mit zumindest einer Messanordnung, umfasst die Einstellung zumindest eines Betriebspunkts aus dem Raum der Eingangsgrößen und Randbedingungen für die Versuchsanordnung durch die Stell- und Versorgungseinrichtungen. DOLLAR A Um dabei auch multidimensionale hochdynamische Entwicklungsaufgaben unter Berücksichtigung von unbekannten Prüflingen generalisieren zu können, wird zumindest eine Teilanordnung der Versuchsanordnung durch ein virtuelles Modell abgebildet und der Prüflauf unter Verwendung dieses Modells parallel zum realen Prüflauf mitverfolgt.
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A partial system for the test system is formed by a virtual model and a test operation is also followed up by using this model parallel to a real test operation. An independent claim is also included for a test system, especially a test bench for machines. Ein Verfahren zur Selbstdiagnose von Versuchsanordnungen, insbesondere von Prüfständen für Arbeitsmaschinen, mit zumindest einem Prüfling, mit Stell- und Versorgungseinrichtungen für den Prüfling und mit zumindest einer Messanordnung, umfasst die Einstellung zumindest eines Betriebspunkts aus dem Raum der Eingangsgrößen und Randbedingungen für die Versuchsanordnung durch die Stell- und Versorgungseinrichtungen. DOLLAR A Um dabei auch multidimensionale hochdynamische Entwicklungsaufgaben unter Berücksichtigung von unbekannten Prüflingen generalisieren zu können, wird zumindest eine Teilanordnung der Versuchsanordnung durch ein virtuelles Modell abgebildet und der Prüflauf unter Verwendung dieses Modells parallel zum realen Prüflauf mitverfolgt.</description><language>eng ; ger</language><subject>CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL ; CONTROLLING ; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS ; MEASURING ; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS ; PHYSICS ; REGULATING ; TESTING ; TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES ORSTRUCTURES ; TESTING STRUCTURES OR APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><creationdate>2007</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20070329&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=102006045785A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20070329&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=102006045785A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>KERSCHBAUMER, STEFAN</creatorcontrib><title>Diagnostics method for self-diagnosis of test systems, especially test benches for machines/machine tools, uses a test piece with its adjusting/supply devices and a set-up of measuring instruments</title><description>Adjusting and supply devices adjust one or more operating points from a space for input quantities and marginal values for a test system, especially a test bench for machines. A partial system for the test system is formed by a virtual model and a test operation is also followed up by using this model parallel to a real test operation. An independent claim is also included for a test system, especially a test bench for machines. Ein Verfahren zur Selbstdiagnose von Versuchsanordnungen, insbesondere von Prüfständen für Arbeitsmaschinen, mit zumindest einem Prüfling, mit Stell- und Versorgungseinrichtungen für den Prüfling und mit zumindest einer Messanordnung, umfasst die Einstellung zumindest eines Betriebspunkts aus dem Raum der Eingangsgrößen und Randbedingungen für die Versuchsanordnung durch die Stell- und Versorgungseinrichtungen. DOLLAR A Um dabei auch multidimensionale hochdynamische Entwicklungsaufgaben unter Berücksichtigung von unbekannten Prüflingen generalisieren zu können, wird zumindest eine Teilanordnung der Versuchsanordnung durch ein virtuelles Modell abgebildet und der Prüflauf unter Verwendung dieses Modells parallel zum realen Prüflauf mitverfolgt.</description><subject>CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL</subject><subject>CONTROLLING</subject><subject>FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>REGULATING</subject><subject>TESTING</subject><subject>TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES ORSTRUCTURES</subject><subject>TESTING STRUCTURES OR APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2007</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNjk1OAkEQhWfjwqh3qI07Jgwq4pYAhgO4J233G6ZM_2WqWsP9PBiNwwFcVaXe9yrfbfO7ZXOMSZStUIAOyVGfRhL4vnVTxkKpJ4UoyUkUQWYEybBsvD9NwSeiHSB_3WDswBEyvy6kKfnaKVIBM_GZYUE_rAOx1qv7KtUhHudScq5PHb7ZXvDoakWgbckXiwAjZawgcRQdS0BUuW9ueuMFD9d51zy-7z42-xY5HaqpsYjQw3a36J667rV7Wa7eluvF83-5M7vgZK4</recordid><startdate>20070329</startdate><enddate>20070329</enddate><creator>KERSCHBAUMER, STEFAN</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20070329</creationdate><title>Diagnostics method for self-diagnosis of test systems, especially test benches for machines/machine tools, uses a test piece with its adjusting/supply devices and a set-up of measuring instruments</title><author>KERSCHBAUMER, STEFAN</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_DE102006045785A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; ger</language><creationdate>2007</creationdate><topic>CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL</topic><topic>CONTROLLING</topic><topic>FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>REGULATING</topic><topic>TESTING</topic><topic>TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES ORSTRUCTURES</topic><topic>TESTING STRUCTURES OR APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>KERSCHBAUMER, STEFAN</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>KERSCHBAUMER, STEFAN</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Diagnostics method for self-diagnosis of test systems, especially test benches for machines/machine tools, uses a test piece with its adjusting/supply devices and a set-up of measuring instruments</title><date>2007-03-29</date><risdate>2007</risdate><abstract>Adjusting and supply devices adjust one or more operating points from a space for input quantities and marginal values for a test system, especially a test bench for machines. 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