Unit for repeated measurement of device part physical quantities
Jednotka pro opakovaná merení fyzikálních velicin sestávající se z libovolne napájené rídicí a snímací cásti (READER), vytvárející a sledující vnejší elektromagnetické pole urcité frekvence, a z pasivní, tj. trvale nenapájené elektronické mericí cásti (TAG), umožnující zátežove modulovat zmínené pol...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | cze ; eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
container_end_page | |
---|---|
container_issue | |
container_start_page | |
container_title | |
container_volume | |
creator | FOHNRICH JAROMIR NEDBAL JAN JOCHMAN JAROSLAV NEUBERT MILAN VELYCHKO VITALIY |
description | Jednotka pro opakovaná merení fyzikálních velicin sestávající se z libovolne napájené rídicí a snímací cásti (READER), vytvárející a sledující vnejší elektromagnetické pole urcité frekvence, a z pasivní, tj. trvale nenapájené elektronické mericí cásti (TAG), umožnující zátežove modulovat zmínené pole rídicí a snímací cásti (READER), vybavené mikroprocesorem nebo mikrokontrolerem s príslušným programem a alespon jedním senzorem merené fyzikální veliciny té cásti objektu, se kterou je mericí cást (TAG) pevne spojena, kde mericí cást (TAG) je napájena z rídicí a snímací cásti (READER) priblížené k mericí cásti (TAG) na menší než minimální vzdálenost. Výhodou navrženého rešení je vysoký stupen bezúdržbovosti mericí jednotky a možnost jejího nasazení na pohyblivé soucásti prumyslových zarízení v nárocných provozních podmínkách. Výhodné rovnež je, že vlastní merící cást (TAG) muže být využívána ve stávajících systémech radiofrekvencní identifikace RFID. |
format | Patent |
fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_CZ2009481A3</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>CZ2009481A3</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_CZ2009481A33</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZHAIzcssUUjLL1IoSi1ITSxJTVHITU0sLi1KzU3NK1HIT1NISS3LTE5VKEgsKlEoyKgszkxOzFEoLE3MK8ksyUwt5mFgTUvMKU7lhdLcDApuriHOHrqpBfnxqcUFicmpeakl8c5RRgYGliYWho7GxkQoAQCKOzFK</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>Unit for repeated measurement of device part physical quantities</title><source>esp@cenet</source><creator>FOHNRICH JAROMIR ; NEDBAL JAN ; JOCHMAN JAROSLAV ; NEUBERT MILAN ; VELYCHKO VITALIY</creator><creatorcontrib>FOHNRICH JAROMIR ; NEDBAL JAN ; JOCHMAN JAROSLAV ; NEUBERT MILAN ; VELYCHKO VITALIY</creatorcontrib><description>Jednotka pro opakovaná merení fyzikálních velicin sestávající se z libovolne napájené rídicí a snímací cásti (READER), vytvárející a sledující vnejší elektromagnetické pole urcité frekvence, a z pasivní, tj. trvale nenapájené elektronické mericí cásti (TAG), umožnující zátežove modulovat zmínené pole rídicí a snímací cásti (READER), vybavené mikroprocesorem nebo mikrokontrolerem s príslušným programem a alespon jedním senzorem merené fyzikální veliciny té cásti objektu, se kterou je mericí cást (TAG) pevne spojena, kde mericí cást (TAG) je napájena z rídicí a snímací cásti (READER) priblížené k mericí cásti (TAG) na menší než minimální vzdálenost. Výhodou navrženého rešení je vysoký stupen bezúdržbovosti mericí jednotky a možnost jejího nasazení na pohyblivé soucásti prumyslových zarízení v nárocných provozních podmínkách. Výhodné rovnež je, že vlastní merící cást (TAG) muže být využívána ve stávajících systémech radiofrekvencní identifikace RFID.</description><language>cze ; eng</language><subject>APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBEMICROSCOPY [SPM] ; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; PHYSICS ; SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS ; TESTING</subject><creationdate>2011</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20110316&DB=EPODOC&CC=CZ&NR=2009481A3$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76289</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20110316&DB=EPODOC&CC=CZ&NR=2009481A3$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>FOHNRICH JAROMIR</creatorcontrib><creatorcontrib>NEDBAL JAN</creatorcontrib><creatorcontrib>JOCHMAN JAROSLAV</creatorcontrib><creatorcontrib>NEUBERT MILAN</creatorcontrib><creatorcontrib>VELYCHKO VITALIY</creatorcontrib><title>Unit for repeated measurement of device part physical quantities</title><description>Jednotka pro opakovaná merení fyzikálních velicin sestávající se z libovolne napájené rídicí a snímací cásti (READER), vytvárející a sledující vnejší elektromagnetické pole urcité frekvence, a z pasivní, tj. trvale nenapájené elektronické mericí cásti (TAG), umožnující zátežove modulovat zmínené pole rídicí a snímací cásti (READER), vybavené mikroprocesorem nebo mikrokontrolerem s príslušným programem a alespon jedním senzorem merené fyzikální veliciny té cásti objektu, se kterou je mericí cást (TAG) pevne spojena, kde mericí cást (TAG) je napájena z rídicí a snímací cásti (READER) priblížené k mericí cásti (TAG) na menší než minimální vzdálenost. Výhodou navrženého rešení je vysoký stupen bezúdržbovosti mericí jednotky a možnost jejího nasazení na pohyblivé soucásti prumyslových zarízení v nárocných provozních podmínkách. Výhodné rovnež je, že vlastní merící cást (TAG) muže být využívána ve stávajících systémech radiofrekvencní identifikace RFID.</description><subject>APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBEMICROSCOPY [SPM]</subject><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2011</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZHAIzcssUUjLL1IoSi1ITSxJTVHITU0sLi1KzU3NK1HIT1NISS3LTE5VKEgsKlEoyKgszkxOzFEoLE3MK8ksyUwt5mFgTUvMKU7lhdLcDApuriHOHrqpBfnxqcUFicmpeakl8c5RRgYGliYWho7GxkQoAQCKOzFK</recordid><startdate>20110316</startdate><enddate>20110316</enddate><creator>FOHNRICH JAROMIR</creator><creator>NEDBAL JAN</creator><creator>JOCHMAN JAROSLAV</creator><creator>NEUBERT MILAN</creator><creator>VELYCHKO VITALIY</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20110316</creationdate><title>Unit for repeated measurement of device part physical quantities</title><author>FOHNRICH JAROMIR ; NEDBAL JAN ; JOCHMAN JAROSLAV ; NEUBERT MILAN ; VELYCHKO VITALIY</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_CZ2009481A33</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>cze ; eng</language><creationdate>2011</creationdate><topic>APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBEMICROSCOPY [SPM]</topic><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>FOHNRICH JAROMIR</creatorcontrib><creatorcontrib>NEDBAL JAN</creatorcontrib><creatorcontrib>JOCHMAN JAROSLAV</creatorcontrib><creatorcontrib>NEUBERT MILAN</creatorcontrib><creatorcontrib>VELYCHKO VITALIY</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>FOHNRICH JAROMIR</au><au>NEDBAL JAN</au><au>JOCHMAN JAROSLAV</au><au>NEUBERT MILAN</au><au>VELYCHKO VITALIY</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Unit for repeated measurement of device part physical quantities</title><date>2011-03-16</date><risdate>2011</risdate><abstract>Jednotka pro opakovaná merení fyzikálních velicin sestávající se z libovolne napájené rídicí a snímací cásti (READER), vytvárející a sledující vnejší elektromagnetické pole urcité frekvence, a z pasivní, tj. trvale nenapájené elektronické mericí cásti (TAG), umožnující zátežove modulovat zmínené pole rídicí a snímací cásti (READER), vybavené mikroprocesorem nebo mikrokontrolerem s príslušným programem a alespon jedním senzorem merené fyzikální veliciny té cásti objektu, se kterou je mericí cást (TAG) pevne spojena, kde mericí cást (TAG) je napájena z rídicí a snímací cásti (READER) priblížené k mericí cásti (TAG) na menší než minimální vzdálenost. Výhodou navrženého rešení je vysoký stupen bezúdržbovosti mericí jednotky a možnost jejího nasazení na pohyblivé soucásti prumyslových zarízení v nárocných provozních podmínkách. Výhodné rovnež je, že vlastní merící cást (TAG) muže být využívána ve stávajících systémech radiofrekvencní identifikace RFID.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
fulltext | fulltext_linktorsrc |
identifier | |
ispartof | |
issn | |
language | cze ; eng |
recordid | cdi_epo_espacenet_CZ2009481A3 |
source | esp@cenet |
subjects | APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBEMICROSCOPY [SPM] INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS TESTING |
title | Unit for repeated measurement of device part physical quantities |
url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-02-11T09%3A49%3A00IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=FOHNRICH%20JAROMIR&rft.date=2011-03-16&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3ECZ2009481A3%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |