CIRCUIT ARRANGEMENT FOR MICROPROCESSOR MEASURING SYSTEM USED FOR MECHANICAL STRESS MEASSURING BY TENSOMETRIC METHOD

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	BELAN JOZEF ,CS, STRAPKO FRANTISEK DOC.CSC.,CS, TRENCINA JAROMIR CSC.,CS, RACZ PETER ,CS
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	CALCULATING COMPUTING COUNTING ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING PHYSICS
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