LASER INTERFEROMETER WITH ORTOGONAL LINEARY POLARIZED RAY BEAMS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	PETRU,FRANTISEK,CS, KRSEK,JIRI,CS
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS DEVICES USING STIMULATED EMISSION ELECTRICITY MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
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