Magnetic levitation contact rail parameter measuring equipment and method

The invention provides a magnetic levitation contact rail parameter measuring device and method. The magnetic levitation contact rail parameter measuring device comprises a measuring instrument and an auxiliary measuring module marked with a datum point. The auxiliary measurement module is detachabl...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: XU ZAOHUA, WU FEI, ZHANG BAOQI, HE LIJIANG, GAO CHAO, XU ZEQUN, JIANG HAI, WAN CHUANJIAN, LIN ZHENBING
Format: Patent
Sprache:chi ; eng
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