Single parameter event sequence testing data generation method of embedded software

The invention discloses a single parameter event sequence testing data generation method of embedded software, relates to a testing data generation method of embedded software, and aims to solve the problems that the time sequence of data is not taken into account in a conventional embedded software...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	WEI ZHANGAN, SUN CHAO, JIANG SHOUDA, SHENG YUNLONG
Format:	Patent
Sprache:	chi ; eng
Schlagworte:	CALCULATING COMPUTING COUNTING ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING PHYSICS
Online-Zugang:	Volltext bestellen
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