Method for forming shallow trench isolation (STI) structure

The invention discloses a method for forming a shallow trench isolation (STI) structure. The method comprises the following steps: forming a pad oxide layer and a silicon nitride layer on a semiconductor substrate; patterning the pad oxide layer, the silicon nitride layer and the semiconductor subst...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: YIN JINGLEI, YUAN LIN
Format: Patent
Sprache:chi ; eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!