System and method for sampling tests

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	XIE GUANGPING, XU XIXIANG, WANG WENHUI, WANG GUILIN, SUI DANNA, XU SIBIAO, ZHAO XIANZHONG, WANG WENGE
Format:	Patent
Sprache:	chi ; eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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