BALL-MAPPING SYSTEM AND METHOD OF OPERATING THE SAME

A ball-mapping system connectable to an X-ray diffraction apparatus, for collecting X- ray diffraction data at measurement points located on a ball-shaped sample is provided. The system includes a sample stage, including a sample-contacting surface and a guide assembly cooperating with the sample-contacting surface for guiding the sample-contacting surface along a first axis and along a second axis unparallel to the first axis. The system includes a sample holder for keeping the ball-shaped sample in contact with the sample stage and a motor assembly in driving engagement with the guide assembly, the motor assembly driving the sample-contacting surface in translational movement along the first axis and the second axis, the translational movement of the sample-contacting surface causing the ball-shaped sample to rotate, on the sample-contacting surface along the first axis and the second axis. A method for mapping the ball-shaped sample is also provided. L'invention concerne un système de cartographie de balle pouvant être relié à un appareil de diffraction de rayons X, permettant de collecter des données de diffraction de rayons X au niveau de points de mesure situés sur un échantillon en forme de balle. Le système comprend un étage d'échantillon, comprenant une surface de contact avec l'échantillon et un ensemble de guidage coopérant avec la surface de contact avec l'échantillon afin de guider la surface de contact avec l'échantillon le long d'un premier axe et le long d'un second axe non parallèle au premier axe. Le système comprend un support d'échantillon permettant de maintenir l'échantillon en forme de balle en contact avec l'étage d'échantillon et un ensemble moteur en prise d'entraînement avec l'ensemble de guidage, l'ensemble moteur entraînant la surface de contact avec l'échantillon en translation le long du premier axe et du second axe, la translation de la surface de contact avec l'échantillon amenant l'échantillon en forme de balle à tourner, sur la surface de contact avec l'échantillon le long du premier axe et du second axe. L'invention concerne également un procédé de cartographie de l'échantillon en forme de balle.