SYSTEM FOR CALCULATION OF MATERIAL PROPERTIES USING REFLECTION TERAHERTZ RADIATION AND AN EXTERNAL REFERENCE STRUCTURE
A system for interpreting terahertz radiation includes a terahertz transmitter configured to output a pulse of terahertz radiation and a terahertz receiver configured to receive at least a portion of the pulse of radiation from the terahertz transmitter. The terahertz receiver is configured to outpu...
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| Hauptverfasser: | , |
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| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; fre |
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| Zusammenfassung: | A system for interpreting terahertz radiation includes a terahertz transmitter configured to output a pulse of terahertz radiation and a terahertz receiver configured to receive at least a portion of the pulse of radiation from the terahertz transmitter. The terahertz receiver is configured to output a signal based on the radiation received by the terahertz receiver.
L'invention concerne un système d'interprétation de rayonnements dans le domaine du térahertz, comprenant un émetteur térahertz configuré pour délivrer une impulsion de rayonnement térahertz et un récepteur térahertz configuré pour recevoir au moins une partie de l'impulsion de rayonnement délivrée par l'émetteur térahertz. Le récepteur térahertz est configuré pour délivrer un signal basé sur le rayonnement reçu par le récepteur térahertz. |
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