PHASE BASED SENSING
A method of interrogating a phase based transducer by providing a pulsed input including two different wavelengths. The different wavelength components can be used to derive a phase change experienced by a synthetic wavelength, and by arranging for the synthetic wavelength to be significantly greate...
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|---|---|
| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; fre |
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| creator | DEFREITAS, JOLYON CRICKMORE, ROGER IAN |
| description | A method of interrogating a phase based transducer by providing a pulsed input including two different wavelengths. The different wavelength components can be used to derive a phase change experienced by a synthetic wavelength, and by arranging for the synthetic wavelength to be significantly greater that the component wavelengths, the phase so detected has a reduced sensitivity, and is less susceptible to overscaling effects.
L'invention porte sur un procédé consistant à interroger un transducteur basé sur la phase par la fourniture d'une entrée pulsée comprenant deux longueurs d'onde différentes. Les composantes de longueurs d'onde différentes peuvent être utilisés pour déduire un changement de phase subi par une longueur d'onde synthétique, et par agencement pour que la longueur d'onde synthétique soit significativement supérieure aux longueurs d'onde de composantes, la phase ainsi détectée a une sensibilité réduite, et est moins sensible à des effets d'agrandissement d'échelle. |
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L'invention porte sur un procédé consistant à interroger un transducteur basé sur la phase par la fourniture d'une entrée pulsée comprenant deux longueurs d'onde différentes. Les composantes de longueurs d'onde différentes peuvent être utilisés pour déduire un changement de phase subi par une longueur d'onde synthétique, et par agencement pour que la longueur d'onde synthétique soit significativement supérieure aux longueurs d'onde de composantes, la phase ainsi détectée a une sensibilité réduite, et est moins sensible à des effets d'agrandissement d'échelle.</description><language>eng ; fre</language><subject>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS ; MEASURING ; MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE ; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; PHYSICS ; TARIFF METERING APPARATUS ; TESTING</subject><creationdate>2015</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20151117&DB=EPODOC&CC=CA&NR=2692469C$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76290</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20151117&DB=EPODOC&CC=CA&NR=2692469C$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>DEFREITAS, JOLYON</creatorcontrib><creatorcontrib>CRICKMORE, ROGER IAN</creatorcontrib><title>PHASE BASED SENSING</title><description>A method of interrogating a phase based transducer by providing a pulsed input including two different wavelengths. The different wavelength components can be used to derive a phase change experienced by a synthetic wavelength, and by arranging for the synthetic wavelength to be significantly greater that the component wavelengths, the phase so detected has a reduced sensitivity, and is less susceptible to overscaling effects.
L'invention porte sur un procédé consistant à interroger un transducteur basé sur la phase par la fourniture d'une entrée pulsée comprenant deux longueurs d'onde différentes. Les composantes de longueurs d'onde différentes peuvent être utilisés pour déduire un changement de phase subi par une longueur d'onde synthétique, et par agencement pour que la longueur d'onde synthétique soit significativement supérieure aux longueurs d'onde de composantes, la phase ainsi détectée a une sensibilité réduite, et est moins sensible à des effets d'agrandissement d'échelle.</description><subject>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE</subject><subject>MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TARIFF METERING APPARATUS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2015</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZBAO8HAMdlVwAhIuCsGufsGefu48DKxpiTnFqbxQmptB3s01xNlDN7UgPz61uCAxOTUvtSTe2dHIzNLIxMzS2ZiwCgDV0x1T</recordid><startdate>20151117</startdate><enddate>20151117</enddate><creator>DEFREITAS, JOLYON</creator><creator>CRICKMORE, ROGER IAN</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20151117</creationdate><title>PHASE BASED SENSING</title><author>DEFREITAS, JOLYON ; CRICKMORE, ROGER IAN</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_CA2692469C3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2015</creationdate><topic>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE</topic><topic>MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TARIFF METERING APPARATUS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>DEFREITAS, JOLYON</creatorcontrib><creatorcontrib>CRICKMORE, ROGER IAN</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>DEFREITAS, JOLYON</au><au>CRICKMORE, ROGER IAN</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>PHASE BASED SENSING</title><date>2015-11-17</date><risdate>2015</risdate><abstract>A method of interrogating a phase based transducer by providing a pulsed input including two different wavelengths. The different wavelength components can be used to derive a phase change experienced by a synthetic wavelength, and by arranging for the synthetic wavelength to be significantly greater that the component wavelengths, the phase so detected has a reduced sensitivity, and is less susceptible to overscaling effects.
L'invention porte sur un procédé consistant à interroger un transducteur basé sur la phase par la fourniture d'une entrée pulsée comprenant deux longueurs d'onde différentes. Les composantes de longueurs d'onde différentes peuvent être utilisés pour déduire un changement de phase subi par une longueur d'onde synthétique, et par agencement pour que la longueur d'onde synthétique soit significativement supérieure aux longueurs d'onde de composantes, la phase ainsi détectée a une sensibilité réduite, et est moins sensible à des effets d'agrandissement d'échelle.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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| subjects | ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS MEASURING MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR PHYSICS TARIFF METERING APPARATUS TESTING |
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