METHOD AND SYSTEM FOR DETECTING CONDITIONS INSIDE A WELLBORE

Embodiments of methods and systems for detecting conditions inside a wellbore according to the invention are disclosed. One embodiment of the invention of the system includes a pipe (150) that is configured to rotate in a wellbore (140). A first detector (120) is located near the surface and is conf...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: BARNETT, WILSON CRAIG, BEIQUE, JEAN MICHEL, BILBY, CHRISTOPHER M
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:Embodiments of methods and systems for detecting conditions inside a wellbore according to the invention are disclosed. One embodiment of the invention of the system includes a pipe (150) that is configured to rotate in a wellbore (140). A first detector (120) is located near the surface and is configured to measure a first parameter that correlates to rotation of the pipe (150). A second detector (160C) is located at a first depth away from the surface and is configured to measure a second parameter that correlates to rotation of the pipe (150). A circuit (130) is coupled to the first detector (120) and the second detector (160C) and is configured to compare the first and second parameters. L'invention concerne des modes de réalisation de procédés et de systèmes servant à détecter des conditions à l'intérieur d'un puits de forage. Un mode de réalisation de l'invention consiste en un tuyau (150) conçu pour effectuer une rotation dans le puits de forage (140). Un premier détecteur (120) est situé à proximité de la surface et conçu pour mesurer un premier paramètre se corrélant à la rotation du tuyau (150). Un deuxième détecteur (160C) est placé à une première profondeur par rapport à la surface et conçu pour mesurer un deuxième paramètre se corrélant à la rotation du tuyau (150). Un circuit (130) est couplé au premier détecteur (120) et au deuxième détecteur (160C) et est conçu pour comparer le premier et le deuxième paramètre.