método de medir profundidade e/ou azimute de dados de perfilmagem,dispositivo para medir a profundidade e/ou azimute de dados de perfilmagem (mm1, mm2), ferramenta de perfilagem (tl) disposta para ser desenvolvida no interior de função furo de poço, montagem de perfuração (md) disposta para perfurar um furo de poço, e produto programa de computador para um dispositivo de medição da profundidade e/ou azimute disposto para ser desenvolvido ao interior de um furo de poço

MéTODO DE MEDIR PROFUNDIDADE E/OU AZIMUTE DE DADOS DE PERFILAGEM, DISPOSITIVO PARA MEDIR A PROFUNDIDADE E/OU AZIMUTE DE DADOS DE PERFILAGEM (MMl, MM2), FERRAMENTA DE PERFILAGEM(TL) DISPOSTA PARA SER DESENVOLVIDA NO INTERIOR DE FUNçãO FURO DE POçO, MONTAGEM DE PERFURAçãO(MD) DISPOSTA PARA PERFURAR UM...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: ROEL VAN OS
Format: Patent
Sprache:por
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:MéTODO DE MEDIR PROFUNDIDADE E/OU AZIMUTE DE DADOS DE PERFILAGEM, DISPOSITIVO PARA MEDIR A PROFUNDIDADE E/OU AZIMUTE DE DADOS DE PERFILAGEM (MMl, MM2), FERRAMENTA DE PERFILAGEM(TL) DISPOSTA PARA SER DESENVOLVIDA NO INTERIOR DE FUNçãO FURO DE POçO, MONTAGEM DE PERFURAçãO(MD) DISPOSTA PARA PERFURAR UM FURO DE POçO, E PRODUTO PROGRAMA DE COMPUTADOR PARA UM DISPOSITIVO DE MEDIçãO DA PROFUNDIDADE E/OU AZIMUTE DISPOSTO PARA SER DESENVOLVIDO AO INTERIOR DE UM FURO DE POçO Método de medir profundidade e/ou azimute de dados de perfilagem, os dados de perfilagem estando relacionados a pelo menos uma propriedade de uma zona GF, CS, CA que circunda um furo de poço e sendo medidos por pelo menos um arranjo sensor SA1D, SA2D, o método compreendendo as etapas de: adquirir e armazenar um primeiro quadro de dados de perfilagem F11 F2J. correspondente a uma primeira posição do arranjo sensor, e adquirir e armazenar um segundo quadro de dados de perfilagem F12, F22 correspondente a uma segunda posição do arranjo sensor, onde a primeira e segunda posições são tais que o segundo quadro de dados de perfilagem F12, F22 se sobrepóe pelo menos parcialmente ao primeiro quadro de dados de perfilagem F11, F21, comparar o primeiro F11, F21 e segundo quadro de dados de perfilagem F12, F22, e calcular uma mudança relativa na profundidade DP e/ou azimute AZ dos dados de perfilagem medidos pelo arranjo sensor SA1D, SA2D entre o primeiro Eu, E21 e segundo F12, F22 quadro de dados de perfilagem.