métodos de monitoramento de itens ou de materiais em processos de fabricação e método de rastreamento de produtos semi-acabados, subprodutos do processo de fabricação ou de resìduos de um processo de fabricação

MéTODOS DE MONITORAMENTO DE ITENS OU DE MATERIAIS EM PROCESSOS DE FABRICAçãO E MéTODO DE RASTREAMENTO DE PRODUTOS SEMI-ACABADOS, SUBPRODUTOS DO PROCESSO DE FABRICAçãO OU DE RESìDUOS DE UM PROCESSO DE FABRICAçãO Trata-se de métodos para o monitoramento de itens e/ou materiais de um processo de fabric...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: SUBHALAKSHMI M. ANANTHANARAYANAN, MICHAEL E. HAMERLY, BARRY W. KOSTYK, ROBERT D. LORENTZ, ROBERT A. SAINATI, JAMES P. MCGEE, JOHN W. VAN BOGART, RONALD D. JESME
Format: Patent
Sprache:por
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!