SISTEMA DE VARREDURA PARA IMAGEAR RECURSOS ESTRUTURAIS ABAIXO DA SUPERFÍCIE DE UM OBJETO E MÉTODO DE IMAGEAMENTO DE RECURSOS ESTRUTURAIS ABAIXO DA SUPERFÍCIE DE UM OBJETO
Trata-se de um sistema de varredura para imagear recursos estruturais abaixo da superfície de um objeto, sendo que o sistema de varredura compreende: um módulo transdutor configurado para transmitir sinais de ultrassom a um objeto e para receber sinais de ultrassom refletidos do objeto no qual dados...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | Trata-se de um sistema de varredura para imagear recursos estruturais abaixo da superfície de um objeto, sendo que o sistema de varredura compreende: um módulo transdutor configurado para transmitir sinais de ultrassom a um objeto e para receber sinais de ultrassom refletidos do objeto no qual dados referentes a uma estrutura interna do objeto podem ser obtidos; e um módulo de análise acoplado ao módulo transdutor e configurado para analisar sinais de ultrassom recebidos para identificar um recurso nos sinais de ultrassom recebidos; no qual o módulo transdutor é configurado para transmitir sinais adicionais de ultrassom em um atraso de tempo t após os sinais de ultrassom, em que o atraso de tempo t é determinado em dependência do recurso identificado.
A scanning system for imaging structural features below the surface of an object, the scanning system comprising: a transducer module configured to transmit ultrasound signals towards an object and to receive ultrasound signals reflected from the object whereby data pertaining to an internal structure of the object can be obtained; and an analysis module coupled to the transducer module and configured to analyse received ultrasound signals to identify a feature in the received ultrasound signals; in which the transducer module is configured to transmit further ultrasound signals at a time delay t after the ultrasound signals, where the time delay t is determined in dependence on the identified feature. |
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