PIXEL COM DRENAGEM AUMENTADA

PIXEL COM DRENAGEM AUMENTADA. A presente invenção refere-se a um circuito integrado que compreende: um pixel que compreende: uma região de fotodetecção; e um dreno configurado para descartar portadores de carga de dentro de uma região semicondutora do pixel fora da região de fotodetecção. Algumas mo...

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Hauptverfasser: TODD REARICK, FARSHID GHASEMI
Format: Patent
Sprache:por
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creator TODD REARICK
FARSHID GHASEMI
description PIXEL COM DRENAGEM AUMENTADA. A presente invenção refere-se a um circuito integrado que compreende: um pixel que compreende: uma região de fotodetecção; e um dreno configurado para descartar portadores de carga de dentro de uma região semicondutora do pixel fora da região de fotodetecção. Algumas modalidades referem-se a um circuito integrado que compreende: um pixel que compreende: uma região de fotodetecção; e um dreno configurado para descartar portadores de carga da região de fotodetecção, em que o dreno compreende uma região semicondutora e a região semicondutora é contatada por um contato metálico. Algumas modalidades referem-se a um circuito integrado que compreende: um pixel que compreende: uma região de fotodetecção; e um dreno configurado para descartar portadores de carga da região de fotodetecção, em que o dreno compreende uma região semicondutora com a qual o contato elétrico é feito através de um percurso condutor que não inclui um eletrodo de polissilício. Some embodiments relate to an integrated circuit, comprising: a pixel, comprising: a photodetection region; and a drain configured to discard charge carriers from within a semiconductor region of the pixel outside of the photodetection region. Some embodiments relate to an integrated circuit, comprising: a pixel, comprising: a photodetection region; and a drain configured to discard charge carriers from the photodetection region, wherein the drain comprises a semiconductor region and the semiconductor region is contacted by a metal contact. Some embodiments relate to an integrated circuit, comprising: a pixel, comprising: a photodetection region; and a drain configured to discard charge carriers from the photodetection region, wherein the drain comprises a semiconductor region that to which electrical contact is made through a conductive path that does not include a polysilicon electrode.
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A presente invenção refere-se a um circuito integrado que compreende: um pixel que compreende: uma região de fotodetecção; e um dreno configurado para descartar portadores de carga de dentro de uma região semicondutora do pixel fora da região de fotodetecção. Algumas modalidades referem-se a um circuito integrado que compreende: um pixel que compreende: uma região de fotodetecção; e um dreno configurado para descartar portadores de carga da região de fotodetecção, em que o dreno compreende uma região semicondutora e a região semicondutora é contatada por um contato metálico. Algumas modalidades referem-se a um circuito integrado que compreende: um pixel que compreende: uma região de fotodetecção; e um dreno configurado para descartar portadores de carga da região de fotodetecção, em que o dreno compreende uma região semicondutora com a qual o contato elétrico é feito através de um percurso condutor que não inclui um eletrodo de polissilício. Some embodiments relate to an integrated circuit, comprising: a pixel, comprising: a photodetection region; and a drain configured to discard charge carriers from within a semiconductor region of the pixel outside of the photodetection region. Some embodiments relate to an integrated circuit, comprising: a pixel, comprising: a photodetection region; and a drain configured to discard charge carriers from the photodetection region, wherein the drain comprises a semiconductor region and the semiconductor region is contacted by a metal contact. Some embodiments relate to an integrated circuit, comprising: a pixel, comprising: a photodetection region; and a drain configured to discard charge carriers from the photodetection region, wherein the drain comprises a semiconductor region that to which electrical contact is made through a conductive path that does not include a polysilicon electrode.</description><language>por</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; ELECTRICITY ; SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><creationdate>2022</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20220719&amp;DB=EPODOC&amp;CC=BR&amp;NR=112022008106A2$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20220719&amp;DB=EPODOC&amp;CC=BR&amp;NR=112022008106A2$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>TODD REARICK</creatorcontrib><creatorcontrib>FARSHID GHASEMI</creatorcontrib><title>PIXEL COM DRENAGEM AUMENTADA</title><description>PIXEL COM DRENAGEM AUMENTADA. 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