PIXEL COM DRENAGEM AUMENTADA
PIXEL COM DRENAGEM AUMENTADA. A presente invenção refere-se a um circuito integrado que compreende: um pixel que compreende: uma região de fotodetecção; e um dreno configurado para descartar portadores de carga de dentro de uma região semicondutora do pixel fora da região de fotodetecção. Algumas mo...
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creator | TODD REARICK FARSHID GHASEMI |
description | PIXEL COM DRENAGEM AUMENTADA. A presente invenção refere-se a um circuito integrado que compreende: um pixel que compreende: uma região de fotodetecção; e um dreno configurado para descartar portadores de carga de dentro de uma região semicondutora do pixel fora da região de fotodetecção. Algumas modalidades referem-se a um circuito integrado que compreende: um pixel que compreende: uma região de fotodetecção; e um dreno configurado para descartar portadores de carga da região de fotodetecção, em que o dreno compreende uma região semicondutora e a região semicondutora é contatada por um contato metálico. Algumas modalidades referem-se a um circuito integrado que compreende: um pixel que compreende: uma região de fotodetecção; e um dreno configurado para descartar portadores de carga da região de fotodetecção, em que o dreno compreende uma região semicondutora com a qual o contato elétrico é feito através de um percurso condutor que não inclui um eletrodo de polissilício.
Some embodiments relate to an integrated circuit, comprising: a pixel, comprising: a photodetection region; and a drain configured to discard charge carriers from within a semiconductor region of the pixel outside of the photodetection region. Some embodiments relate to an integrated circuit, comprising: a pixel, comprising: a photodetection region; and a drain configured to discard charge carriers from the photodetection region, wherein the drain comprises a semiconductor region and the semiconductor region is contacted by a metal contact. Some embodiments relate to an integrated circuit, comprising: a pixel, comprising: a photodetection region; and a drain configured to discard charge carriers from the photodetection region, wherein the drain comprises a semiconductor region that to which electrical contact is made through a conductive path that does not include a polysilicon electrode. |
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Some embodiments relate to an integrated circuit, comprising: a pixel, comprising: a photodetection region; and a drain configured to discard charge carriers from within a semiconductor region of the pixel outside of the photodetection region. Some embodiments relate to an integrated circuit, comprising: a pixel, comprising: a photodetection region; and a drain configured to discard charge carriers from the photodetection region, wherein the drain comprises a semiconductor region and the semiconductor region is contacted by a metal contact. Some embodiments relate to an integrated circuit, comprising: a pixel, comprising: a photodetection region; and a drain configured to discard charge carriers from the photodetection region, wherein the drain comprises a semiconductor region that to which electrical contact is made through a conductive path that does not include a polysilicon electrode.</description><language>por</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; ELECTRICITY ; SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><creationdate>2022</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20220719&DB=EPODOC&CC=BR&NR=112022008106A2$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20220719&DB=EPODOC&CC=BR&NR=112022008106A2$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>TODD REARICK</creatorcontrib><creatorcontrib>FARSHID GHASEMI</creatorcontrib><title>PIXEL COM DRENAGEM AUMENTADA</title><description>PIXEL COM DRENAGEM AUMENTADA. A presente invenção refere-se a um circuito integrado que compreende: um pixel que compreende: uma região de fotodetecção; e um dreno configurado para descartar portadores de carga de dentro de uma região semicondutora do pixel fora da região de fotodetecção. Algumas modalidades referem-se a um circuito integrado que compreende: um pixel que compreende: uma região de fotodetecção; e um dreno configurado para descartar portadores de carga da região de fotodetecção, em que o dreno compreende uma região semicondutora e a região semicondutora é contatada por um contato metálico. Algumas modalidades referem-se a um circuito integrado que compreende: um pixel que compreende: uma região de fotodetecção; e um dreno configurado para descartar portadores de carga da região de fotodetecção, em que o dreno compreende uma região semicondutora com a qual o contato elétrico é feito através de um percurso condutor que não inclui um eletrodo de polissilício.
Some embodiments relate to an integrated circuit, comprising: a pixel, comprising: a photodetection region; and a drain configured to discard charge carriers from within a semiconductor region of the pixel outside of the photodetection region. Some embodiments relate to an integrated circuit, comprising: a pixel, comprising: a photodetection region; and a drain configured to discard charge carriers from the photodetection region, wherein the drain comprises a semiconductor region and the semiconductor region is contacted by a metal contact. Some embodiments relate to an integrated circuit, comprising: a pixel, comprising: a photodetection region; and a drain configured to discard charge carriers from the photodetection region, wherein the drain comprises a semiconductor region that to which electrical contact is made through a conductive path that does not include a polysilicon electrode.</description><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2022</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZJAJ8Ixw9VFw9vdVcAly9XN0d_VVcAz1dfULcXRx5GFgTUvMKU7lhdLcDKpuriHOHrqpBfnxqcUFicmpeakl8U5BhoZGBkZGBgYWhgZmjkbGxKoDAFqTIhc</recordid><startdate>20220719</startdate><enddate>20220719</enddate><creator>TODD REARICK</creator><creator>FARSHID GHASEMI</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20220719</creationdate><title>PIXEL COM DRENAGEM AUMENTADA</title><author>TODD REARICK ; FARSHID GHASEMI</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_BR112022008106A23</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>por</language><creationdate>2022</creationdate><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>SEMICONDUCTOR DEVICES</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>TODD REARICK</creatorcontrib><creatorcontrib>FARSHID GHASEMI</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>TODD REARICK</au><au>FARSHID GHASEMI</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>PIXEL COM DRENAGEM AUMENTADA</title><date>2022-07-19</date><risdate>2022</risdate><abstract>PIXEL COM DRENAGEM AUMENTADA. A presente invenção refere-se a um circuito integrado que compreende: um pixel que compreende: uma região de fotodetecção; e um dreno configurado para descartar portadores de carga de dentro de uma região semicondutora do pixel fora da região de fotodetecção. Algumas modalidades referem-se a um circuito integrado que compreende: um pixel que compreende: uma região de fotodetecção; e um dreno configurado para descartar portadores de carga da região de fotodetecção, em que o dreno compreende uma região semicondutora e a região semicondutora é contatada por um contato metálico. Algumas modalidades referem-se a um circuito integrado que compreende: um pixel que compreende: uma região de fotodetecção; e um dreno configurado para descartar portadores de carga da região de fotodetecção, em que o dreno compreende uma região semicondutora com a qual o contato elétrico é feito através de um percurso condutor que não inclui um eletrodo de polissilício.
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