sistema para analisar resistência ao impacto e à perfuração
a presente invenção se refere a um método e a um sistema para analisar uma característica física de uma amostra de filme. o sistema inclui um suporte retentor de material configurado para reter a amostra de filme; um sistema de teste de dardo configurado para testar uma característica física da amos...
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| Format: | Patent |
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| creator | BRAYDEN E. GLAD DONALD L. MCCARTY II ERICK SUTANTO JOHN LUND HITENDRA SINGH |
| description | a presente invenção se refere a um método e a um sistema para analisar uma característica física de uma amostra de filme. o sistema inclui um suporte retentor de material configurado para reter a amostra de filme; um sistema de teste de dardo configurado para testar uma característica física da amostra de filme; e um sistema de movimentação configurado para mover a amostra de filme retida a ser analisada ou testada entre as estações. o sistema de movimentação está configurado para mover a amostra de filme retida no suporte retentor de material para o sistema de teste de dardo.
A method and a system for analyzing a physical characteristic of a film sample are described herein. The system includes a material holder system configured to hold the film sample; a dart testing system configured to test a physical characteristic of the film sample; and a moving system configured to move the held film sample to be analyzed or tested between stations. The moving system is configured to move the held film sample in the material holder system to the dart testing system. |
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A method and a system for analyzing a physical characteristic of a film sample are described herein. The system includes a material holder system configured to hold the film sample; a dart testing system configured to test a physical characteristic of the film sample; and a moving system configured to move the held film sample to be analyzed or tested between stations. The moving system is configured to move the held film sample in the material holder system to the dart testing system.</description><language>por</language><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2020</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20200728&DB=EPODOC&CC=BR&NR=112020001851A2$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76290</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20200728&DB=EPODOC&CC=BR&NR=112020001851A2$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>BRAYDEN E. GLAD</creatorcontrib><creatorcontrib>DONALD L. MCCARTY II</creatorcontrib><creatorcontrib>ERICK SUTANTO</creatorcontrib><creatorcontrib>JOHN LUND</creatorcontrib><creatorcontrib>HITENDRA SINGH</creatorcontrib><title>sistema para analisar resistência ao impacto e à perfuração</title><description>a presente invenção se refere a um método e a um sistema para analisar uma característica física de uma amostra de filme. o sistema inclui um suporte retentor de material configurado para reter a amostra de filme; um sistema de teste de dardo configurado para testar uma característica física da amostra de filme; e um sistema de movimentação configurado para mover a amostra de filme retida a ser analisada ou testada entre as estações. o sistema de movimentação está configurado para mover a amostra de filme retida no suporte retentor de material para o sistema de teste de dardo.
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