método e sistema para determinação de posição altamente precisa

1 / 1 resumo “mã‰todo e sistema para determinaã‡ãƒo de posiã‡ãƒo altamente precisa ” mã©todo e sistema para determinaã§ã£o de posiã§ã£o altamente precisa de dispositivos de controle (20a,b) arranjados em conexã£o com cabos instrumentados rebocados atrã¡s de uma embarcaã§ã£o de vistoria por meio...

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Hauptverfasser: OLA ERIK FJELLSTAD, Per Christian Berntsen
Format: Patent
Sprache:por
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