Método e equipamento de posicionamento automático para microscopia por varredura de sonda e espectroscopia óptica in situ

método e equipamento de posicionamento automático para microscopia por varredura de sonda e espectroscopia óptica in situ. o presente pedido de patente descreve um método e um equipamento capazes de posicionar automaticamente uma sonda usada para procedimentos de microscopia de varredura por sonda (...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	LUIZ GUSTAVO DE OLIVEIRA LOPES CANÇADO, CASSIANO RABELO E SILVA, LUIZ FERNANDO ETRUSCO, JOHNATHAN MAYKE MELO NETO, ADO JÓRIO DE VASCONCELOS, HUDSON LUIZ SILVA DE MIRANDA, LAURA PINTO COELHO AMORIM
Format:	Patent
Sprache:	por
Schlagworte:	APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBEMICROSCOPY [SPM] COLORIMETRY INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT MEASURING PHYSICS RADIATION PYROMETRY SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS TESTING
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