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Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	JAMES A. MASTERMAN, WENYUAN XU, STEVEN P. FLOEDER, XIN YU, MATTHEW P. PEICK, CARL J. SKEPS, STEVEN R. WAGEMAN
Format:	Patent
Sprache:	por
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
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