DEVICE FOR MEASURIN7 OF CONTACT POTENTIAL DIFFERENCE OF SEMI- CONDUCTOR MATERIALS

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	ANGELOV, ANGEL M, PLATIKANOV, STOJO K, PLATIKANOVA, DORA S, ARNAUDOV, RUMEN I, SERAFIMOV, NIKOLA S, IVANOVA, SIMEONKA R, IVANOV, IVAN TS, KHRISTOV, MARIN KH
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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