VACUUM SYSTEM FOR EXCITING AND DETECTING CHARACTERISTIC X- RAY SPECTRUM WITH HELP OF SEMI- CONDUCTOR DETECTOR

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	KARAMANOVA,ZHANA S, VUCHKOV,MITKO K, TOMOV,LJUBOMIR M, LEFTEROV,DIMITR P, ARTINJAN,ARI A, NIKOLOVA,EMILIJA L, KOZHUKHAROV,IVAN M, JANAKIEV,KIRIL D
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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