FOUR WAVE LASER MICRO REFRACT METER

FOUR WAVE LASER MICRO REFRACT METER

Четиривълновият лазерен микрорефрактометър е предназначен за измерване на показателя на пречупване на микролитрови течни проби и тънки субмикронни слоеве при лабораторни изследвания във физиката, химията, биологията и медицината. Предимството на микрорефрактометъра е намалената неопределеност на изм...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: MINCHEV, GEORGI, BODUROV, Ivan, SAYNOV, SIMEON, YOVCHEVA, Temenuzhka
Format: Patent
Sprache:bul ; eng
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator MINCHEV, GEORGI
BODUROV, Ivan
SAYNOV, SIMEON
YOVCHEVA, Temenuzhka
description Четиривълновият лазерен микрорефрактометър е предназначен за измерване на показателя на пречупване на микролитрови течни проби и тънки субмикронни слоеве при лабораторни изследвания във физиката, химията, биологията и медицината. Предимството на микрорефрактометъра е намалената неопределеност на измерванията и възможността за изследване на показателя на пречупване на течни и твърди образци в широк спектрален диапазон. 2 претенции, 1 фигура Four wave laser micro refract meter is designed for measurement of refractive index of liquid samples and thin micro litter sub micron layers in laboratory research in physics, chemistry, biology and medicine. The advantage of the four wave laser micro refract meter is the reduced uncertainty of measurements and the opportunity for the study of refractive index of liquid and solid samples in a wide spectral range.
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_BG1985UU1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>BG1985UU1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_BG1985UU13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZFB28w8NUgh3DHNV8HEMdg1S8PV0DvJXCHJ1C3J0DlHwdQ1xDeJhYE1LzClO5YXS3Axybq4hzh66qQX58anFBYnJqXmpJfFO7oaWFqahoYbGBBUAAI3QIbo</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>FOUR WAVE LASER MICRO REFRACT METER</title><source>esp@cenet</source><creator>MINCHEV, GEORGI ; BODUROV, Ivan ; SAYNOV, SIMEON ; YOVCHEVA, Temenuzhka</creator><creatorcontrib>MINCHEV, GEORGI ; BODUROV, Ivan ; SAYNOV, SIMEON ; YOVCHEVA, Temenuzhka</creatorcontrib><description>Четиривълновият лазерен микрорефрактометър е предназначен за измерване на показателя на пречупване на микролитрови течни проби и тънки субмикронни слоеве при лабораторни изследвания във физиката, химията, биологията и медицината. Предимството на микрорефрактометъра е намалената неопределеност на измерванията и възможността за изследване на показателя на пречупване на течни и твърди образци в широк спектрален диапазон. 2 претенции, 1 фигура Four wave laser micro refract meter is designed for measurement of refractive index of liquid samples and thin micro litter sub micron layers in laboratory research in physics, chemistry, biology and medicine. The advantage of the four wave laser micro refract meter is the reduced uncertainty of measurements and the opportunity for the study of refractive index of liquid and solid samples in a wide spectral range.</description><language>bul ; eng</language><creationdate>2014</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20141031&amp;DB=EPODOC&amp;CC=BG&amp;NR=1985U1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25562,76317</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20141031&amp;DB=EPODOC&amp;CC=BG&amp;NR=1985U1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>MINCHEV, GEORGI</creatorcontrib><creatorcontrib>BODUROV, Ivan</creatorcontrib><creatorcontrib>SAYNOV, SIMEON</creatorcontrib><creatorcontrib>YOVCHEVA, Temenuzhka</creatorcontrib><title>FOUR WAVE LASER MICRO REFRACT METER</title><description>Четиривълновият лазерен микрорефрактометър е предназначен за измерване на показателя на пречупване на микролитрови течни проби и тънки субмикронни слоеве при лабораторни изследвания във физиката, химията, биологията и медицината. Предимството на микрорефрактометъра е намалената неопределеност на измерванията и възможността за изследване на показателя на пречупване на течни и твърди образци в широк спектрален диапазон. 2 претенции, 1 фигура Four wave laser micro refract meter is designed for measurement of refractive index of liquid samples and thin micro litter sub micron layers in laboratory research in physics, chemistry, biology and medicine. The advantage of the four wave laser micro refract meter is the reduced uncertainty of measurements and the opportunity for the study of refractive index of liquid and solid samples in a wide spectral range.</description><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2014</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZFB28w8NUgh3DHNV8HEMdg1S8PV0DvJXCHJ1C3J0DlHwdQ1xDeJhYE1LzClO5YXS3Axybq4hzh66qQX58anFBYnJqXmpJfFO7oaWFqahoYbGBBUAAI3QIbo</recordid><startdate>20141031</startdate><enddate>20141031</enddate><creator>MINCHEV, GEORGI</creator><creator>BODUROV, Ivan</creator><creator>SAYNOV, SIMEON</creator><creator>YOVCHEVA, Temenuzhka</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20141031</creationdate><title>FOUR WAVE LASER MICRO REFRACT METER</title><author>MINCHEV, GEORGI ; BODUROV, Ivan ; SAYNOV, SIMEON ; YOVCHEVA, Temenuzhka</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_BG1985UU13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>bul ; eng</language><creationdate>2014</creationdate><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>MINCHEV, GEORGI</creatorcontrib><creatorcontrib>BODUROV, Ivan</creatorcontrib><creatorcontrib>SAYNOV, SIMEON</creatorcontrib><creatorcontrib>YOVCHEVA, Temenuzhka</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>MINCHEV, GEORGI</au><au>BODUROV, Ivan</au><au>SAYNOV, SIMEON</au><au>YOVCHEVA, Temenuzhka</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>FOUR WAVE LASER MICRO REFRACT METER</title><date>2014-10-31</date><risdate>2014</risdate><abstract>Четиривълновият лазерен микрорефрактометър е предназначен за измерване на показателя на пречупване на микролитрови течни проби и тънки субмикронни слоеве при лабораторни изследвания във физиката, химията, биологията и медицината. Предимството на микрорефрактометъра е намалената неопределеност на измерванията и възможността за изследване на показателя на пречупване на течни и твърди образци в широк спектрален диапазон. 2 претенции, 1 фигура Four wave laser micro refract meter is designed for measurement of refractive index of liquid samples and thin micro litter sub micron layers in laboratory research in physics, chemistry, biology and medicine. The advantage of the four wave laser micro refract meter is the reduced uncertainty of measurements and the opportunity for the study of refractive index of liquid and solid samples in a wide spectral range.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language bul ; eng
recordid cdi_epo_espacenet_BG1985UU1
source esp@cenet
title FOUR WAVE LASER MICRO REFRACT METER
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-14T14%3A44%3A31IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=MINCHEV,%20GEORGI&rft.date=2014-10-31&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EBG1985UU1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true