Verfahren zum Kalibrieren eines verschmutzten Infrarotsensors, Verfahren zum Messen einer Temperatur mit einem verschmutzten Infrarotsensor sowie Küchengerät
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Kalibrieren wenigstens eines Messwerts eines Infrarotsensors (5) in einem Küchengerät (1) mit einem Garraum (3). Der Garraum umfasst einen Infrarotsensor (5), der durch eine verschmutzbare Schutzscheibe (7) von einem inneren Bereich (9) des Garraums (3) getre...
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Hauptverfasser: | , , |
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Kalibrieren wenigstens eines Messwerts eines Infrarotsensors (5) in einem Küchengerät (1) mit einem Garraum (3). Der Garraum umfasst einen Infrarotsensor (5), der durch eine verschmutzbare Schutzscheibe (7) von einem inneren Bereich (9) des Garraums (3) getrennt ist. Der Garraum (3) weist ein Kalibrierelement (27) mit einem vorbekannten Sollwert einer Oberflächentemperatur und einem vorbekannten Emissionsgrad zur Kalibrierung einer vom Infrarotsensor (5) gemessenen Oberflächentemperatur auf. Das erfindungsgemäße Kalibrierverfahren umfasst die Schritte: Messen wenigstens eines Messwertes einer Oberflächentemperatur des Kalibrierelements (27) mit Hilfe des Infrarotsensors (5); Bestimmen einer Abweichung zwischen dem wenigstens einen Messwert der Oberflächentemperatur des Kalibrierelements (27) und dem vorbekannten Sollwert der Oberflächentemperatur des Kalibrierelements (27), und Korrigieren des wenigstens einen Messwerts der Oberflächentemperatur um die Höhe der bestimmten Abweichung auf Basis wenigstens zweier oder mehr der folgenden Werte: dem wenigstens einen Messwert der Oberflächentemperatur des Kalibrierelements (27), dem vorbekannten Sollwert der Oberflächentemperatur des Kalibrierelements (27) und dem vorbekannten Emissionsgrad des Kalibrierelements (27). Die Erfindung betrifft zudem ein Küchengerät sowie ein Messverfahren zur Messung einer Temperatur. |
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