Messeinheit und ein Verfahren zur Messung zumindest eines gasförmigen oder festen Stoffes
Um eine schnelle ortsaufgelöste Messung eines gasförmigen oder festen Stoffes in einem Messvolumen (9) ermöglicht ist vorgesehen, dass ein von einer Lichtquelle (12) erzeugter Primärlichtstrahl (4) in einer Multiplexereinheit (2) in eine Mehrzahl an Teilstrahlen (3) aufgeteilt wird, wobei die Teilst...
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Format: | Patent |
Sprache: | ger |
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creator | Andreas Pein Dr.techn Mario Arar Dipl.Ing. Dr Gerald Steiner Dipl.Ing. Dr.techn |
description | Um eine schnelle ortsaufgelöste Messung eines gasförmigen oder festen Stoffes in einem Messvolumen (9) ermöglicht ist vorgesehen, dass ein von einer Lichtquelle (12) erzeugter Primärlichtstrahl (4) in einer Multiplexereinheit (2) in eine Mehrzahl an Teilstrahlen (3) aufgeteilt wird, wobei die Teilstrahlen (3) zu unterschiedlichen Stellen einer Spiegelungsebene (7.1) einer Spiegelungseinheit (7) abgestrahlt werden, und die Teilstrahlen (3) dabei das Messvolumen (9) durchdringen, welches zwischen den Auskoppelungseinheiten (21) und der Spiegelungseinheit (7) ausgebildet ist, wobei die Teilstrahlen (3) an der Spiegelungseinheit (7) als Rückstrahlen (14) reflektiert werden und die Rückstrahlen (14) dabei das Messvolumen (9) ein zweites Mal durchdringen und wobei die Rückstrahlen (14) mit zumindest einem Detektor (11) erfasst werden und mit dem zumindest einen Detektor (11) eine den gasförmigen oder festen Stoff charakterisierende Lichteigenschaft zumindest eines erfassten Rückstrahls (14) gemessen wird.
According to the invention, in order to allow fast spatially resolved measurement of a gaseous or solid material in a measurement volume (9) at a stationary measurement station, a primary light beam (4) produced by a light source (12) is split, in a multiplexing unit (2), into more than two outgoing partial beams (3); the partial beams (3) are emitted by means of outcoupling units (21) to different points of a reflection plane (7.1) of a reflection unit (7), and the partial beams (3) pass through the measurement volume (9), which is formed between the outcoupling units (21) and the reflection unit (7); the partial beams (3) are reflected by the reflection unit (7) as return beams (14), and the return beams (14) pass through the measurement volume (9) a second time; and the return beams (14) are sensed by means of at least one detector (11) and a light property of at least one sensed return beam (14) is measured by means of the at least one detector (11), said light property characterizing the gaseous or solid material. |
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According to the invention, in order to allow fast spatially resolved measurement of a gaseous or solid material in a measurement volume (9) at a stationary measurement station, a primary light beam (4) produced by a light source (12) is split, in a multiplexing unit (2), into more than two outgoing partial beams (3); the partial beams (3) are emitted by means of outcoupling units (21) to different points of a reflection plane (7.1) of a reflection unit (7), and the partial beams (3) pass through the measurement volume (9), which is formed between the outcoupling units (21) and the reflection unit (7); the partial beams (3) are reflected by the reflection unit (7) as return beams (14), and the return beams (14) pass through the measurement volume (9) a second time; and the return beams (14) are sensed by means of at least one detector (11) and a light property of at least one sensed return beam (14) is measured by means of the at least one detector (11), said light property characterizing the gaseous or solid material.</description><language>ger</language><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; PHYSICS ; TESTING ; TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES ORSTRUCTURES ; TESTING STRUCTURES OR APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><creationdate>2023</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20230615&DB=EPODOC&CC=AT&NR=525197B1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,777,882,25545,76296</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20230615&DB=EPODOC&CC=AT&NR=525197B1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>Andreas Pein Dr.techn</creatorcontrib><creatorcontrib>Mario Arar Dipl.Ing. Dr</creatorcontrib><creatorcontrib>Gerald Steiner Dipl.Ing. Dr.techn</creatorcontrib><title>Messeinheit und ein Verfahren zur Messung zumindest eines gasförmigen oder festen Stoffes</title><description>Um eine schnelle ortsaufgelöste Messung eines gasförmigen oder festen Stoffes in einem Messvolumen (9) ermöglicht ist vorgesehen, dass ein von einer Lichtquelle (12) erzeugter Primärlichtstrahl (4) in einer Multiplexereinheit (2) in eine Mehrzahl an Teilstrahlen (3) aufgeteilt wird, wobei die Teilstrahlen (3) zu unterschiedlichen Stellen einer Spiegelungsebene (7.1) einer Spiegelungseinheit (7) abgestrahlt werden, und die Teilstrahlen (3) dabei das Messvolumen (9) durchdringen, welches zwischen den Auskoppelungseinheiten (21) und der Spiegelungseinheit (7) ausgebildet ist, wobei die Teilstrahlen (3) an der Spiegelungseinheit (7) als Rückstrahlen (14) reflektiert werden und die Rückstrahlen (14) dabei das Messvolumen (9) ein zweites Mal durchdringen und wobei die Rückstrahlen (14) mit zumindest einem Detektor (11) erfasst werden und mit dem zumindest einen Detektor (11) eine den gasförmigen oder festen Stoff charakterisierende Lichteigenschaft zumindest eines erfassten Rückstrahls (14) gemessen wird.
According to the invention, in order to allow fast spatially resolved measurement of a gaseous or solid material in a measurement volume (9) at a stationary measurement station, a primary light beam (4) produced by a light source (12) is split, in a multiplexing unit (2), into more than two outgoing partial beams (3); the partial beams (3) are emitted by means of outcoupling units (21) to different points of a reflection plane (7.1) of a reflection unit (7), and the partial beams (3) pass through the measurement volume (9), which is formed between the outcoupling units (21) and the reflection unit (7); the partial beams (3) are reflected by the reflection unit (7) as return beams (14), and the return beams (14) pass through the measurement volume (9) a second time; and the return beams (14) are sensed by means of at least one detector (11) and a light property of at least one sensed return beam (14) is measured by means of the at least one detector (11), said light property characterizing the gaseous or solid material.</description><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><subject>TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES ORSTRUCTURES</subject><subject>TESTING STRUCTURES OR APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2023</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZIjyTS0uTs3My0jNLFEozUtRALIVwlKL0hIzilLzFKpKixRAKkrz0oHs3My8lNTiEpCa1GKF9MTitMPbinIz04EK81NSixTSgJJAdnBJfhqQycPAmpaYU5zKC6W5GRTcXEOcPXRTC_LjU4sLEpNT81JL4h1DTI1MDS3NnZwMjYlQAgA5NDvq</recordid><startdate>20230615</startdate><enddate>20230615</enddate><creator>Andreas Pein Dr.techn</creator><creator>Mario Arar Dipl.Ing. Dr</creator><creator>Gerald Steiner Dipl.Ing. Dr.techn</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20230615</creationdate><title>Messeinheit und ein Verfahren zur Messung zumindest eines gasförmigen oder festen Stoffes</title><author>Andreas Pein Dr.techn ; Mario Arar Dipl.Ing. Dr ; Gerald Steiner Dipl.Ing. Dr.techn</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_AT525197BB13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>ger</language><creationdate>2023</creationdate><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><topic>TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES ORSTRUCTURES</topic><topic>TESTING STRUCTURES OR APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>Andreas Pein Dr.techn</creatorcontrib><creatorcontrib>Mario Arar Dipl.Ing. Dr</creatorcontrib><creatorcontrib>Gerald Steiner Dipl.Ing. Dr.techn</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>Andreas Pein Dr.techn</au><au>Mario Arar Dipl.Ing. Dr</au><au>Gerald Steiner Dipl.Ing. Dr.techn</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Messeinheit und ein Verfahren zur Messung zumindest eines gasförmigen oder festen Stoffes</title><date>2023-06-15</date><risdate>2023</risdate><abstract>Um eine schnelle ortsaufgelöste Messung eines gasförmigen oder festen Stoffes in einem Messvolumen (9) ermöglicht ist vorgesehen, dass ein von einer Lichtquelle (12) erzeugter Primärlichtstrahl (4) in einer Multiplexereinheit (2) in eine Mehrzahl an Teilstrahlen (3) aufgeteilt wird, wobei die Teilstrahlen (3) zu unterschiedlichen Stellen einer Spiegelungsebene (7.1) einer Spiegelungseinheit (7) abgestrahlt werden, und die Teilstrahlen (3) dabei das Messvolumen (9) durchdringen, welches zwischen den Auskoppelungseinheiten (21) und der Spiegelungseinheit (7) ausgebildet ist, wobei die Teilstrahlen (3) an der Spiegelungseinheit (7) als Rückstrahlen (14) reflektiert werden und die Rückstrahlen (14) dabei das Messvolumen (9) ein zweites Mal durchdringen und wobei die Rückstrahlen (14) mit zumindest einem Detektor (11) erfasst werden und mit dem zumindest einen Detektor (11) eine den gasförmigen oder festen Stoff charakterisierende Lichteigenschaft zumindest eines erfassten Rückstrahls (14) gemessen wird.
According to the invention, in order to allow fast spatially resolved measurement of a gaseous or solid material in a measurement volume (9) at a stationary measurement station, a primary light beam (4) produced by a light source (12) is split, in a multiplexing unit (2), into more than two outgoing partial beams (3); the partial beams (3) are emitted by means of outcoupling units (21) to different points of a reflection plane (7.1) of a reflection unit (7), and the partial beams (3) pass through the measurement volume (9), which is formed between the outcoupling units (21) and the reflection unit (7); the partial beams (3) are reflected by the reflection unit (7) as return beams (14), and the return beams (14) pass through the measurement volume (9) a second time; and the return beams (14) are sensed by means of at least one detector (11) and a light property of at least one sensed return beam (14) is measured by means of the at least one detector (11), said light property characterizing the gaseous or solid material.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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subjects | INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES ORSTRUCTURES TESTING STRUCTURES OR APPARATUS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR |
title | Messeinheit und ein Verfahren zur Messung zumindest eines gasförmigen oder festen Stoffes |
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