Vorrichtung zur Lagerung eines Objekthalters
Es wird eine Vorrichtung zur Lagerung eines Objekthalters (3) auf einem in ein Kryostat (1) einbringbaren Träger (2) beschrieben. Um auch bei großen Temperaturänderungen eine beschädigungsfreie Lagerung des Objekthalters (3) auf dem Träger (2) zu ermöglichen, sodass reproduzierbare Messvoraussetzung...
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| Format: | Patent |
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| creator | Patrick Rubert Raab Rajdeep Adhikari Bogdan Faina Klemens Dösinger Philip Lindner Alberta Bonanni |
| description | Es wird eine Vorrichtung zur Lagerung eines Objekthalters (3) auf einem in ein Kryostat (1) einbringbaren Träger (2) beschrieben. Um auch bei großen Temperaturänderungen eine beschädigungsfreie Lagerung des Objekthalters (3) auf dem Träger (2) zu ermöglichen, sodass reproduzierbare Messvoraussetzungen bei großen Temperaturänderungen geschaffen werden, wird vorgeschlagen, dass wenigstens ein Klemmelement (4, 5) zum kraftschlüssigen Verbinden des Objekthalters (3) mit dem Träger (2) vorgesehen ist, das über einen Hebel (6, 7) mit einem von einer Steuereinrichtung (18) in Abhängigkeit von Temperatur und von einer Lagervorgabe mit Spannung beaufschlagten, gegen den Objekthalter (3) oder den Träger (2) abgestützten Piezoelement (8, 9) antriebsverbunden ist.
A device for mounting an object holder on a carrier that can be inserted into a cryostat includes at least one clamping element may be provided for non-positive connection of the object holder with the carrier. The at least one clamping element is arranged to enable damage-free mounting of the object holder on the carrier even in the case of large temperature changes, so that reproducible measuring conditions are created at large temperature changes. The at least one clamping element may be drive-connected via a lever to a piezoelectric element, which may be subjected to voltage by a control device as a function of temperature and of a bearing specification and is supported against the object holder or the carrier. |
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A device for mounting an object holder on a carrier that can be inserted into a cryostat includes at least one clamping element may be provided for non-positive connection of the object holder with the carrier. The at least one clamping element is arranged to enable damage-free mounting of the object holder on the carrier even in the case of large temperature changes, so that reproducible measuring conditions are created at large temperature changes. The at least one clamping element may be drive-connected via a lever to a piezoelectric element, which may be subjected to voltage by a control device as a function of temperature and of a bearing specification and is supported against the object holder or the carrier.</description><language>ger</language><subject>APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBEMICROSCOPY [SPM] ; BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; ELECTRICITY ; MEASURING ; PHYSICS ; SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS ; SEMICONDUCTOR DEVICES ; TESTING</subject><creationdate>2020</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20200915&DB=EPODOC&CC=AT&NR=522172B1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76516</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20200915&DB=EPODOC&CC=AT&NR=522172B1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>Patrick Rubert Raab</creatorcontrib><creatorcontrib>Rajdeep Adhikari</creatorcontrib><creatorcontrib>Bogdan Faina</creatorcontrib><creatorcontrib>Klemens Dösinger</creatorcontrib><creatorcontrib>Philip Lindner</creatorcontrib><creatorcontrib>Alberta Bonanni</creatorcontrib><title>Vorrichtung zur Lagerung eines Objekthalters</title><description>Es wird eine Vorrichtung zur Lagerung eines Objekthalters (3) auf einem in ein Kryostat (1) einbringbaren Träger (2) beschrieben. Um auch bei großen Temperaturänderungen eine beschädigungsfreie Lagerung des Objekthalters (3) auf dem Träger (2) zu ermöglichen, sodass reproduzierbare Messvoraussetzungen bei großen Temperaturänderungen geschaffen werden, wird vorgeschlagen, dass wenigstens ein Klemmelement (4, 5) zum kraftschlüssigen Verbinden des Objekthalters (3) mit dem Träger (2) vorgesehen ist, das über einen Hebel (6, 7) mit einem von einer Steuereinrichtung (18) in Abhängigkeit von Temperatur und von einer Lagervorgabe mit Spannung beaufschlagten, gegen den Objekthalter (3) oder den Träger (2) abgestützten Piezoelement (8, 9) antriebsverbunden ist.
A device for mounting an object holder on a carrier that can be inserted into a cryostat includes at least one clamping element may be provided for non-positive connection of the object holder with the carrier. The at least one clamping element is arranged to enable damage-free mounting of the object holder on the carrier even in the case of large temperature changes, so that reproducible measuring conditions are created at large temperature changes. The at least one clamping element may be drive-connected via a lever to a piezoelectric element, which may be subjected to voltage by a control device as a function of temperature and of a bearing specification and is supported against the object holder or the carrier.</description><subject>APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBEMICROSCOPY [SPM]</subject><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>MEASURING</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS</subject><subject>SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2020</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZNAJyy8qykzOKCnNS1eoKi1S8ElMTy0CcVIz81KLFfyTslKzSzISc0pSi4p5GFjTEnOKU3mhNDeDgptriLOHbmpBfnxqcUFicmpeakm8Y4ipkZGhuZGTk6ExEUoAcE4p3g</recordid><startdate>20200915</startdate><enddate>20200915</enddate><creator>Patrick Rubert Raab</creator><creator>Rajdeep Adhikari</creator><creator>Bogdan Faina</creator><creator>Klemens Dösinger</creator><creator>Philip Lindner</creator><creator>Alberta Bonanni</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20200915</creationdate><title>Vorrichtung zur Lagerung eines Objekthalters</title><author>Patrick Rubert Raab ; Rajdeep Adhikari ; Bogdan Faina ; Klemens Dösinger ; Philip Lindner ; Alberta Bonanni</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_AT522172BB13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>ger</language><creationdate>2020</creationdate><topic>APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBEMICROSCOPY [SPM]</topic><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>MEASURING</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS</topic><topic>SEMICONDUCTOR DEVICES</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>Patrick Rubert Raab</creatorcontrib><creatorcontrib>Rajdeep Adhikari</creatorcontrib><creatorcontrib>Bogdan Faina</creatorcontrib><creatorcontrib>Klemens Dösinger</creatorcontrib><creatorcontrib>Philip Lindner</creatorcontrib><creatorcontrib>Alberta Bonanni</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>Patrick Rubert Raab</au><au>Rajdeep Adhikari</au><au>Bogdan Faina</au><au>Klemens Dösinger</au><au>Philip Lindner</au><au>Alberta Bonanni</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Vorrichtung zur Lagerung eines Objekthalters</title><date>2020-09-15</date><risdate>2020</risdate><abstract>Es wird eine Vorrichtung zur Lagerung eines Objekthalters (3) auf einem in ein Kryostat (1) einbringbaren Träger (2) beschrieben. Um auch bei großen Temperaturänderungen eine beschädigungsfreie Lagerung des Objekthalters (3) auf dem Träger (2) zu ermöglichen, sodass reproduzierbare Messvoraussetzungen bei großen Temperaturänderungen geschaffen werden, wird vorgeschlagen, dass wenigstens ein Klemmelement (4, 5) zum kraftschlüssigen Verbinden des Objekthalters (3) mit dem Träger (2) vorgesehen ist, das über einen Hebel (6, 7) mit einem von einer Steuereinrichtung (18) in Abhängigkeit von Temperatur und von einer Lagervorgabe mit Spannung beaufschlagten, gegen den Objekthalter (3) oder den Träger (2) abgestützten Piezoelement (8, 9) antriebsverbunden ist.
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