Non-Destructive Model to Predict Commelina diffusa Leaf Area

Leaf length (L), leaf width (W), and leaf area (LA) were measured from 100 leaves aiming to determine a simple linear equation (Y=a*X) to predict the leaf area of Commelina diffusa, an important weed infesting annual and perennial crops in Brazil and worldwide. Results indicate the equation LA=0.7*LW reliably estimates the leaf area of C. diffusa, after correlating LA with LW, and then validating that equation by analyzing four new 25-leaf samples. RESUMO: Comprimento da folha (C), largura da folha (L) e área foliar (AF) foram medidos em 100 folhas com o objetivo de determinar uma equação linear simples (Y=a*X) para estimar a área foliar de Commelina diffusa, importante planta daninha que infesta culturas anuais e perenes no Brasil e no mundo. Os resultados indicam que a equação AF=0,7*CL estima confiavelmente a área foliar de C. diffusa, após correlacionar AF com CL e, em seguida, proceder à validação da equação analisando quatro novas amostras de 25 folhas.