A software tool to determine optical constants in thin film solar cell
In this work, it was developed a software tool that allows determining the optical properties of semiconductor materials, this tool is useful for researchers working on the characterization of semiconductor thin films. The software calculates the optical constants: index of refraction (n), coefficie...
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Veröffentlicht in: | Dyna (Medellín, Colombia) Colombia), 2018, Vol.85 (206), p.321-328 |
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Hauptverfasser: | , , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
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creator | Vargas Perea, Heiner Alexander Rocha Gonzalez, Robinson Sepúlveda Sepúlveda, Alexander Botero Londoño, Mónica Andrea Calderón Triana, Clara Lilia |
description | In this work, it was developed a software tool that allows determining the optical properties of semiconductor materials, this tool is useful for researchers working on the characterization of semiconductor thin films. The software calculates the optical constants: index of refraction (n), coefficient of absorption (α) and prohibited energy gap (Gap), in addition to the approximate thickness of the film; with the developed program were calculated optical constants of thin films of ZnS, SnS:Bi, and SnS2:Bi, which are used as buffer layers and absorbers in solar cells, this paper presents the results obtained with a SnS2:Bi film. The software was created in the Python programming language within a simple English-Spanish interface and in order to develop it, the method proposed by Swanepoel, based on the experimental transmittance spectrum of the semiconductor material, was taken into account.
En este trabajo se desarrolló una herramienta de software que permite determinar las propiedades ópticas de materiales semiconductores, esta herramienta es de utilidad para investigadores que trabajan en la caracterización de películas delgadas semiconductoras. El software calcula las constantes ópticas: índice de refracción (n), coeficiente de absorción (α) y brecha de energía prohibida (Gap), además del espesor aproximado de la película; con el programa desarrollado se calcularon las constantes ópticas de películas delgadas de ZnS, SnS:Bi y SnS2:Bi, que son usadas como capas buffer y absorbentes en celdas solares, en este trabajo se presentan los resultados obtenidos con una película de SnS2:Bi. El software fue creado en el lenguaje de programación Python dentro de una interfaz sencilla inglés-español y para desarrollarlo se tuvo en cuenta el método propuesto por Swanepoel, el cual toma como base el espectro de transmitancia experimental del material semiconductor. |
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En este trabajo se desarrolló una herramienta de software que permite determinar las propiedades ópticas de materiales semiconductores, esta herramienta es de utilidad para investigadores que trabajan en la caracterización de películas delgadas semiconductoras. El software calcula las constantes ópticas: índice de refracción (n), coeficiente de absorción (α) y brecha de energía prohibida (Gap), además del espesor aproximado de la película; con el programa desarrollado se calcularon las constantes ópticas de películas delgadas de ZnS, SnS:Bi y SnS2:Bi, que son usadas como capas buffer y absorbentes en celdas solares, en este trabajo se presentan los resultados obtenidos con una película de SnS2:Bi. El software fue creado en el lenguaje de programación Python dentro de una interfaz sencilla inglés-español y para desarrollarlo se tuvo en cuenta el método propuesto por Swanepoel, el cual toma como base el espectro de transmitancia experimental del material semiconductor.</description><identifier>ISSN: 0012-7353</identifier><language>eng</language><subject>celdas solares ; constantes ópticas ; manuscript software ; optical constants ; películas delgadas semiconductoras ; semiconductor thin films ; software ; solar cells</subject><ispartof>Dyna (Medellín, Colombia), 2018, Vol.85 (206), p.321-328</ispartof><rights>LICENCIA DE USO: Los documentos a texto completo incluidos en Dialnet son de acceso libre y propiedad de sus autores y/o editores. Por tanto, cualquier acto de reproducción, distribución, comunicación pública y/o transformación total o parcial requiere el consentimiento expreso y escrito de aquéllos. Cualquier enlace al texto completo de estos documentos deberá hacerse a través de la URL oficial de éstos en Dialnet. Más información: https://dialnet.unirioja.es/info/derechosOAI | INTELLECTUAL PROPERTY RIGHTS STATEMENT: Full text documents hosted by Dialnet are protected by copyright and/or related rights. This digital object is accessible without charge, but its use is subject to the licensing conditions set by its authors or editors. Unless expressly stated otherwise in the licensing conditions, you are free to linking, browsing, printing and making a copy for your own personal purposes. All other acts of reproduction and communication to the public are subject to the licensing conditions expressed by editors and authors and require consent from them. Any link to this document should be made using its official URL in Dialnet. More info: https://dialnet.unirioja.es/info/derechosOAI</rights><lds50>peer_reviewed</lds50><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><link.rule.ids>315,781,785,875,4025</link.rule.ids></links><search><creatorcontrib>Vargas Perea, Heiner Alexander</creatorcontrib><creatorcontrib>Rocha Gonzalez, Robinson</creatorcontrib><creatorcontrib>Sepúlveda Sepúlveda, Alexander</creatorcontrib><creatorcontrib>Botero Londoño, Mónica Andrea</creatorcontrib><creatorcontrib>Calderón Triana, Clara Lilia</creatorcontrib><title>A software tool to determine optical constants in thin film solar cell</title><title>Dyna (Medellín, Colombia)</title><description>In this work, it was developed a software tool that allows determining the optical properties of semiconductor materials, this tool is useful for researchers working on the characterization of semiconductor thin films. The software calculates the optical constants: index of refraction (n), coefficient of absorption (α) and prohibited energy gap (Gap), in addition to the approximate thickness of the film; with the developed program were calculated optical constants of thin films of ZnS, SnS:Bi, and SnS2:Bi, which are used as buffer layers and absorbers in solar cells, this paper presents the results obtained with a SnS2:Bi film. The software was created in the Python programming language within a simple English-Spanish interface and in order to develop it, the method proposed by Swanepoel, based on the experimental transmittance spectrum of the semiconductor material, was taken into account.
En este trabajo se desarrolló una herramienta de software que permite determinar las propiedades ópticas de materiales semiconductores, esta herramienta es de utilidad para investigadores que trabajan en la caracterización de películas delgadas semiconductoras. El software calcula las constantes ópticas: índice de refracción (n), coeficiente de absorción (α) y brecha de energía prohibida (Gap), además del espesor aproximado de la película; con el programa desarrollado se calcularon las constantes ópticas de películas delgadas de ZnS, SnS:Bi y SnS2:Bi, que son usadas como capas buffer y absorbentes en celdas solares, en este trabajo se presentan los resultados obtenidos con una película de SnS2:Bi. El software fue creado en el lenguaje de programación Python dentro de una interfaz sencilla inglés-español y para desarrollarlo se tuvo en cuenta el método propuesto por Swanepoel, el cual toma como base el espectro de transmitancia experimental del material semiconductor.</description><subject>celdas solares</subject><subject>constantes ópticas</subject><subject>manuscript software</subject><subject>optical constants</subject><subject>películas delgadas semiconductoras</subject><subject>semiconductor thin films</subject><subject>software</subject><subject>solar cells</subject><issn>0012-7353</issn><fulltext>true</fulltext><rsrctype>article</rsrctype><creationdate>2018</creationdate><recordtype>article</recordtype><sourceid>FKZ</sourceid><recordid>eNqljssKwjAQRbNQsD7-IT9QSPqgLtwUsbiW7sNQpzhlmpQkIv69WegXuDkHLhy4K5EppYu8KetyI7YhTEpVtVbHTHStDG6ML_Aoo3OcIO8Y0c9kUbol0gAsB2dDBBuDJCvjI2EknlPJ4OWAzHuxHoEDHr7eiVN36c_X_E7AFqNZPM3g38YBmd_2tOTJTWAwmPbWq_SxKrRuVPln_gFcY032</recordid><startdate>2018</startdate><enddate>2018</enddate><creator>Vargas Perea, Heiner Alexander</creator><creator>Rocha Gonzalez, Robinson</creator><creator>Sepúlveda Sepúlveda, Alexander</creator><creator>Botero Londoño, Mónica Andrea</creator><creator>Calderón Triana, Clara Lilia</creator><scope>AGMXS</scope><scope>FKZ</scope></search><sort><creationdate>2018</creationdate><title>A software tool to determine optical constants in thin film solar cell</title><author>Vargas Perea, Heiner Alexander ; Rocha Gonzalez, Robinson ; Sepúlveda Sepúlveda, Alexander ; Botero Londoño, Mónica Andrea ; Calderón Triana, Clara Lilia</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-dialnet_primary_oai_dialnet_unirioja_es_ART00014211703</frbrgroupid><rsrctype>articles</rsrctype><prefilter>articles</prefilter><language>eng</language><creationdate>2018</creationdate><topic>celdas solares</topic><topic>constantes ópticas</topic><topic>manuscript software</topic><topic>optical constants</topic><topic>películas delgadas semiconductoras</topic><topic>semiconductor thin films</topic><topic>software</topic><topic>solar cells</topic><toplevel>peer_reviewed</toplevel><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>Vargas Perea, Heiner Alexander</creatorcontrib><creatorcontrib>Rocha Gonzalez, Robinson</creatorcontrib><creatorcontrib>Sepúlveda Sepúlveda, Alexander</creatorcontrib><creatorcontrib>Botero Londoño, Mónica Andrea</creatorcontrib><creatorcontrib>Calderón Triana, Clara Lilia</creatorcontrib><collection>Dialnet (Open Access Full Text)</collection><collection>Dialnet</collection><jtitle>Dyna (Medellín, Colombia)</jtitle></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext</fulltext></delivery><addata><au>Vargas Perea, Heiner Alexander</au><au>Rocha Gonzalez, Robinson</au><au>Sepúlveda Sepúlveda, Alexander</au><au>Botero Londoño, Mónica Andrea</au><au>Calderón Triana, Clara Lilia</au><format>journal</format><genre>article</genre><ristype>JOUR</ristype><atitle>A software tool to determine optical constants in thin film solar cell</atitle><jtitle>Dyna (Medellín, Colombia)</jtitle><date>2018</date><risdate>2018</risdate><volume>85</volume><issue>206</issue><spage>321</spage><epage>328</epage><pages>321-328</pages><issn>0012-7353</issn><abstract>In this work, it was developed a software tool that allows determining the optical properties of semiconductor materials, this tool is useful for researchers working on the characterization of semiconductor thin films. The software calculates the optical constants: index of refraction (n), coefficient of absorption (α) and prohibited energy gap (Gap), in addition to the approximate thickness of the film; with the developed program were calculated optical constants of thin films of ZnS, SnS:Bi, and SnS2:Bi, which are used as buffer layers and absorbers in solar cells, this paper presents the results obtained with a SnS2:Bi film. The software was created in the Python programming language within a simple English-Spanish interface and in order to develop it, the method proposed by Swanepoel, based on the experimental transmittance spectrum of the semiconductor material, was taken into account.
En este trabajo se desarrolló una herramienta de software que permite determinar las propiedades ópticas de materiales semiconductores, esta herramienta es de utilidad para investigadores que trabajan en la caracterización de películas delgadas semiconductoras. El software calcula las constantes ópticas: índice de refracción (n), coeficiente de absorción (α) y brecha de energía prohibida (Gap), además del espesor aproximado de la película; con el programa desarrollado se calcularon las constantes ópticas de películas delgadas de ZnS, SnS:Bi y SnS2:Bi, que son usadas como capas buffer y absorbentes en celdas solares, en este trabajo se presentan los resultados obtenidos con una película de SnS2:Bi. El software fue creado en el lenguaje de programación Python dentro de una interfaz sencilla inglés-español y para desarrollarlo se tuvo en cuenta el método propuesto por Swanepoel, el cual toma como base el espectro de transmitancia experimental del material semiconductor.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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identifier | ISSN: 0012-7353 |
ispartof | Dyna (Medellín, Colombia), 2018, Vol.85 (206), p.321-328 |
issn | 0012-7353 |
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source | DOAJ Directory of Open Access Journals; Elektronische Zeitschriftenbibliothek - Frei zugängliche E-Journals; Dialnet; Alma/SFX Local Collection |
subjects | celdas solares constantes ópticas manuscript software optical constants películas delgadas semiconductoras semiconductor thin films software solar cells |
title | A software tool to determine optical constants in thin film solar cell |
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