Data for: Plasma Nanotechnology for Controlling Chemical and Physical Properties of Organosilicon Nanocoatings

The data contains nanoindentation measurements and elliposmtric spectra.

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Cech, Vladimir
Format:	Dataset
Sprache:	eng
Schlagworte:	Thin Film Characterization
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Zusammenfassung:	The data contains nanoindentation measurements and elliposmtric spectra.
DOI:	10.17632/nbwzz92s2w.1