Progress in a-Si:H/c-Si heterojunction emitters obtained by Hot-Wire CVD at 200 °C
In this work, we investigate heterojunction emitters deposited by Hot-Wire CVD on p-type crystalline silicon. The emitter structure consists of an n-doped film (20 nm) combined with a thin intrinsic hydrogenated amorphous silicon buffer layer (5 nm). The microstructure of these films has been studie...
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Veröffentlicht in: | Thin solid films 2008, Vol.516 (5), p.761-764 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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