Progress in a-Si:H/c-Si heterojunction emitters obtained by Hot-Wire CVD at 200 °C

In this work, we investigate heterojunction emitters deposited by Hot-Wire CVD on p-type crystalline silicon. The emitter structure consists of an n-doped film (20 nm) combined with a thin intrinsic hydrogenated amorphous silicon buffer layer (5 nm). The microstructure of these films has been studie...

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Veröffentlicht in:Thin solid films 2008, Vol.516 (5), p.761-764
Hauptverfasser: Muñoz, D., Voz, C., Martin, I., Orpella, A., Puigdollers, J., Alcubilla, R., Villar, F., Bertomeu, J., Andreu, J., Damon-Lacoste, J., Roca i Cabarrocas, P.
Format: Artikel
Sprache:eng
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