Simulation of Resist Filling Properties under Condensable Gas Ambient in Ultraviolet Nanoimprint Lithography

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Japanese Journal of Applied Physics 2012-06, Vol.51 (6S), p.6
Hauptverfasser: Nagaoka, Yoshinori, Suzuki, Ryosuke, Hiroshima, Hiroshi, Nishikura, Naoki, Kawata, Hiroaki, Yamazaki, Noboru, Iwasaki, Takuya, Hirai, Yoshihiko
Format: Artikel
Sprache:eng ; jpn
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:0021-4922
1347-4065
DOI:10.7567/JJAP.51.06FJ07