Observation of Polarization Distribution on Si(111) Surface by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Japanese Journal of Applied Physics 2011-09, Vol.50 (9S2), p.9
Hauptverfasser:	Yamasue, Kohei, Cho, Yasuo
Format:	Artikel
Sprache:	eng ; jpn
Online-Zugang:	Volltext
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